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2026-05-12
当前机构按“开关”筛选，展示 44 条相关能力。
按标准归类为 12 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T6571-1995
半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 第Ⅳ章 第1节
检测项目：正向电压<I>V</I><Sub>F</Sub>、反向电流<I>I</I><Sub>R</Sub>、正向电压V<Sub>F</Sub>、反向电流I<Sub>R</Sub>、工作电压V<Sub>Z</Sub>、微分电阻R<Sub>z</Sub>
检测对象：整流二极管
检测对象：调整二极管(包含TVS)
检测对象：发光二极管
检测对象：开关二极管
GB/T 14028-2018
半导体集成电路模拟开关测试方法
检测项目：导通电阻R<sub>on</sub>、截止态漏极漏电流I<sub>D</sub>(<sub>off</sub>)、截止态源极漏电流I<sub>S</sub>(<sub>off</sub>)、导通态漏电流I<sub>DS</sub>(<sub>on</sub>)、导通电阻路差△R<sub>on</sub>
检测对象：半导体集成电路模拟开关
GB/T 14714-2008
微小型计算机系统设备用开关电源通用规范
检测项目：负载稳定度、电压稳定度、输出纹波及噪声V<Sub>srip</Sub>、效率ŋ、维持时间
检测对象：开关电源
小电流容量旋转开关通用规范 GJB 734B-2021
小电流容量旋转开关通用规范 GJB 734B-2021
检测项目：接触电阻R<Sub>con</sub>、耐电压U<Sub>R</sub>、绝缘电阻R<Sub>I</sub>
检测对象：开关
密封钮子开关总规范 GJB 735-1989
密封钮子开关总规范 GJB 735-1989
检测项目：接触电阻R<Sub>con</sub>、耐电压U<Sub>R</sub>、绝缘电阻R<Sub>I</sub>
检测对象：开关
钮子开关通用规范 GJB 2450A-2012
钮子开关通用规范 GJB 2450A-2012
检测项目：接触电阻R<Sub>con</sub>、耐电压U<Sub>R</sub>、绝缘电阻R<Sub>I</sub>
检测对象：开关
微动开关通用规范 GJB 809B-2013
微动开关通用规范 GJB 809B-2013
检测项目：接触电阻R<Sub>con</sub>、耐电压U<Sub>R</sub>、绝缘电阻R<Sub>I</sub>
检测对象：开关
按钮开关通用规范 GJB1512A-2011
按钮开关通用规范 GJB1512A-2011
检测项目：接触电阻R<Sub>con</sub>、耐电压U<Sub>R</sub>、绝缘电阻R<Sub>I</sub>
检测对象：开关
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
检测项目：接触电阻R<Sub>con</sub>、耐电压U<Sub>R</sub>、绝缘电阻R<Sub>I</sub>
检测对象：开关
GB/T 17574-1998
半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇 第2节 (2)
检测项目：输入高电平电流I<sub>IH</sub>、输入低电平电流I<sub>IL</sub>、静态条件下的电源电流
检测对象：半导体集成电路模拟开关
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法
检测项目：正向电压V<Sub>F</Sub>、反向电流I<Sub>R</Sub>
检测对象：开关二极管
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项目：开关频率f<Sub>e</sub>
检测对象：DC/DC模块