当前查看：锦州辽晶电子科技股份有限公司检验中心
辽宁省 · 锦州市
地址：辽宁省锦州市太和区松山大街58号
联系电话：0416-4171888
数据更新时间
2026-05-12
当前展示该机构前 74 条能力；该机构共 74 条能力记录。
按标准归类为 22 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T4587-2023
半导体器件 分立器件 第 7 部分：双极型晶体管
检测项目：集电极—基极 截止电流（直 流法）、发射极—基极 截止电流（直 流法）、集电极—发射 极截止电流 （直流法）、集电极—发射极饱和电压、基极—发射极饱和电压、共发射极正向电流传输比、集电极—基极 电压、发射极—基极电压 等 9 项，点击展开全部
检测对象：双极型晶体管
GB/T4377-2018
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目：电压调整率、电流调整率、电源纹波抑制比、耗散电流、耗散电流变化、输出电压
检测对象：半导体集成电路电压调整器
GB/T4586-1994
半导体器件分立器件 第8部分：场效应晶体管 第IV章
检测项目：漏-源通态电阻、漏-源击穿电压、正向跨导、栅极截止电流、漏极截止电流、栅-源阈值电压
检测对象：场效应晶体管
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
检测项目：高温寿命（非工作）、恒定加速度、粒子碰撞噪声检测试验、稳态工作寿命
检测对象：场效应晶体管
检测对象：整流二极管
检测对象：双极型晶体管
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021
检测项目：高温寿命（非工作）、恒定加速度、粒子碰撞噪声检测试验、稳态工作寿命
检测对象：场效应晶体管
检测对象：整流二极管
检测对象：双极型晶体管
GB/T4023-2015
半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管
检测项目：正向电压、击穿电压、反向电流
检测对象：整流二极管
GB/T15651.3-2003
半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件测试方法
检测项目：电流传输比、集电极—发射极饱和电压、集电极—发射极暗电流
检测对象：光电耦合器
GB/T 15651.2-2003
半导体分立器件和集成电路 第5-2部分：光电子器件 基本额定值和特性
检测项目：正向电压、反向电流、集电极—发射极击穿电压
检测对象：光电耦合器
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 1051条件A、B、C、F、G
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 1051条件A、B、C、F、G
检测项目：温度循环（空气-空气）
检测对象：场效应晶体管
检测对象：整流二极管
检测对象：双极型晶体管
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 1051条件A、B、C、F、G
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 1051条件A、B、C、F、G
检测项目：温度循环（空气-空气）
检测对象：场效应晶体管
检测对象：整流二极管
检测对象：双极型晶体管
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 1071条件C、H
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 1071条件C、H
检测项目：密封
检测对象：场效应晶体管
检测对象：整流二极管
检测对象：双极型晶体管
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 1071条件C、H
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 1071条件C、H
检测项目：密封
检测对象：场效应晶体管
检测对象：整流二极管
检测对象：双极型晶体管
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 1042条件C
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 1042条件C
检测项目：老炼
检测对象：场效应晶体管
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 1042条件C
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 1042条件C
检测项目：老炼
检测对象：场效应晶体管
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 1039条件B
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 1039条件B
检测项目：老炼
检测对象：双极型晶体管
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 1039条件B
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 1039条件B
检测项目：老炼
检测对象：双极型晶体管
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 2001.1 条件A～E
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 2001.1 条件A～E
检测项目：恒定加速度
检测对象：混合电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 2001.1 条件A～E
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 2001.1 条件A～E
检测项目：恒定加速度
检测对象：混合电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
检测项目：粒子碰撞噪声检测试验
检测对象：混合电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021
检测项目：粒子碰撞噪声检测试验
检测对象：混合电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 1014.2条件A1、C
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 1014.2条件A1、C
检测项目：密封
检测对象：混合电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 1014.3条件A1、C
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 1014.3条件A1、C
检测项目：密封
检测对象：混合电路