当前查看：锦州辽晶电子科技股份有限公司检验中心
辽宁省 · 锦州市
地址：辽宁省锦州市太和区松山大街58号
联系电话：0416-4171888
数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子器件”筛选，展示 12 条相关能力。
按标准归类为 8 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T15651.3-2003
半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件测试方法
检测项目：电流传输比、集电极—发射极饱和电压、集电极—发射极暗电流
检测对象：光电耦合器
GB/T 15651.2-2003
半导体分立器件和集成电路 第5-2部分：光电子器件 基本额定值和特性
检测项目：正向电压、反向电流、集电极—发射极击穿电压
检测对象：光电耦合器
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 2001.1 条件A～E
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 2001.1 条件A～E
检测项目：恒定加速度
检测对象：混合电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 2001.1 条件A～E
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 2001.1 条件A～E
检测项目：恒定加速度
检测对象：混合电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
检测项目：粒子碰撞噪声检测试验
检测对象：混合电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021
检测项目：粒子碰撞噪声检测试验
检测对象：混合电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 1014.2条件A1、C
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 1014.2条件A1、C
检测项目：密封
检测对象：混合电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 1014.3条件A1、C
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 1014.3条件A1、C
检测项目：密封
检测对象：混合电路