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2026-05-12
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按标准归类为 21 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T 6798-1996
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：输入失调电压、输入失调电流、输入偏置电流、静态电源电流、开环电压增益、共模抑制比、电源电压抑制比、输出高电平电压 等 11 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路电压比较器
GB/T 17574-1998
半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路
检测项目：输入钳位电压、输出低电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流、输出短路电流、输出高阻态电流、静态条件下的电源电流、输出高电平电压 等 10 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路TTL电路
检测对象：半导体集成电路CMOS电路
检测对象：半导体集成电路MOS随机存储器
检测对象：半导体集成电路微处理器及外围接口电路
GB/T 17940-2000
半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路
检测项目：输入失调电压、输入失调电流、输入偏置电流、静态电源电流、共模抑制比、电源电压抑制比、输出高电平电压、输出低电平电压
检测对象：半导体集成电路运算（电压）放大器
GB/T4587-2023
半导体器件 分立器件 第7部分：双极型晶体管 第6章第6.3节
检测项目：集电极-基极截止电流（直流法）、集电极-发射极截止电流（直流法）、集电极-发射极饱和电压、集电极-发射极电压、基极-发射极饱和电压（直流法）、集电极-基极电压、发射极-基极电压、基极-发射极电压（直流法）
检测对象：双极型晶体管
GB/T 4377-2018
半导体集成电路 电压调整器测试方法
检测项目：电压调整率、电流调整率、纹波抑制比、输出电压、最小输入输出电压差、基准电压
检测对象：半导体集成电路电压调整器
GB/T4586-1994
半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 第Ⅳ章
检测项目：栅-源阈值电压、栅极截止电流和栅极泄漏电流、漏极电流、直流正向跨导、漏-源通态电压、漏-源通态电阻
检测对象：场效应晶体管
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021
检测项目：外部目检、温度循环、老炼试验、稳定性烘焙、静电放电敏感度试验
检测对象：微电子器件
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021
检测项目：外观及机械检验、温度循环（空气-空气）、高温寿命、静电放电敏感度试验
检测对象：半导体分立器件
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021
检测项目：老炼（二极管_整流管_稳压管）、老炼（晶体管）、老炼和寿命试验、老炼试验
检测对象：半导体分立器件
GBT6571-1995
半导体器件 分立器件 第3部分：信号(包括开关)和调整二极管 第Ⅳ章 第1节
检测项目：正向电压、反向电流、工作电压、微分电阻
检测对象：开关二极管
检测对象：电压调整二极管
GB/T 6346.1-2024
电子设备用固定电容器 第1部分：总规范
检测项目：损耗角正切、漏电流、绝缘电阻
检测对象：电容器
GB/T4023-2015
半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管
检测项目：正向电压、反向漏电流、击穿电压
检测对象：整流二极管
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009
检测项目：温度冲击试验、高温寿命试验
检测对象：电子及电气元件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 1014.3细检漏：试验条件A1粗检漏：试验条件C
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 1014.3细检漏：试验条件A1粗检漏：试验条件C
检测项目：密封
检测对象：微电子器件
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 1071细捡漏：I类器件试验条件H1粗捡漏： 试验条件C
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 1071细捡漏：I类器件试验条件H1粗捡漏： 试验条件C
检测项目：密封
检测对象：半导体分立器件
半导体分立器件失效分析方法和程序 GJB3157-1998
半导体分立器件失效分析方法和程序 GJB3157-1998
检测项目：静电放电敏感度试验
检测对象：半导体分立器件
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法
检测项目：耐湿
检测对象：电子元器件
稳态温度-湿度偏置寿命测试 JESD22-A101D.01:
稳态温度-湿度偏置寿命测试 JESD22-A101D.01:
检测项目：稳态温度-湿度偏置寿命测试
检测对象：电子元器件
GB-T 4377-2018
半导体集成电路 电压调整器测试方法
检测项目：静态电流
检测对象：半导体集成电路电压调整器
GB/T 17940
半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路
检测项目：开环电压增益
检测对象：半导体集成电路运算（电压）放大器
半导体器件分立器件试验方法 GJB128B-2021
半导体器件分立器件试验方法 GJB128B-2021
检测项目：漏-源击穿电压
检测对象：场效应晶体管