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浙江省 · 绍兴市
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数据更新时间
2026-05-12
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按标准归类为 19 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
SEMI C30-0218
过氧化氢的详细说明
检测项目：钠、镁、铝、钾、钙、铬、锰、铁 等 14 项，点击展开全部
检测对象：30%高纯过氧化氢
HJ 759-2023
环境空气 65种挥发性有机物的测定 罐采样/气相色谱-质谱法
检测项目：苯、甲苯、乙苯、间二甲苯、对二甲苯、苯乙烯、邻二甲苯、1.3.5-三甲基苯 等 9 项，点击展开全部
检测对象：环境空气
JESD22-A101D.01:2021
稳态温度湿度偏差寿命试验
检测项目：温湿度偏压试验、稳态温度湿度寿命试验
检测对象：半导体器件
JESD22-A108G:2022
温度、偏压和工作寿命
检测项目：温度、偏压和工作寿命
检测对象：半导体器件
JESD22-A119A:2015
低温贮存寿命测试
检测项目：低温储存寿命
检测对象：半导体器件
IEC 60749-34:2010
半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第 34 部分：功率循环
检测项目：功率循环
检测对象：半导体器件
JESD22-A122A:2016
功率循环老化/间歇工作寿命
检测项目：功率循环老化/间歇工作寿命
检测对象：半导体器件
MIL-STD-750F:2012 3403
半导体分立器件试验方法
检测项目：绝缘栅双极型晶体管 栅极漏电流
检测对象：半导体器件
MIL-STD-750F:2012 3404
半导体分立器件试验方法
检测项目：绝缘栅双极型晶体管 阈值电压
检测对象：半导体器件
MIL-STD-750F:2012 3405
半导体分立器件试验方法
检测项目：绝缘栅双极型晶体管 集电极-发射极饱和压降
检测对象：半导体器件
MIL-STD-750F:2012 3407
半导体分立器件试验方法
检测项目：绝缘栅双极型晶体管 集电极-发射极击穿电压
检测对象：半导体器件
MIL-STD-750F:2012 3413
半导体分立器件试验方法
检测项目：绝缘栅双极型晶体管 集电极-发射极漏电流
检测对象：半导体器件
JESD 51-14: 2010
半导体器件结壳热阻的瞬态双界面测试方法
检测项目：功率器件结壳热阻
检测对象：半导体器件
JESD22-A110E.01:2021
高加速温湿度应力试验
检测项目：高加速温湿度应力试验
检测对象：半导体器件
JESD22-A118B.01:2021
加速抗湿-无偏压高加速温湿度应力试验
检测项目：加速抗湿-无偏压高加速温湿度应力
检测对象：半导体器件
JESD22-A102E:2015
加速耐湿-无偏置电压高压力蒸煮
检测项目：无偏置电压高压蒸煮
检测对象：半导体器件
JESD22-A104F.01:2023
温度循环
检测项目：温度循环
检测对象：半导体器件
IEC 60749-25:2003
冷热冲击
检测项目：冷热冲击
检测对象：半导体器件
JESD22-A103E.01:2021
高温贮存寿命测试
检测项目：高温储存寿命
检测对象：半导体器件