当前查看:北京航天微电科技有限公司检测试验中心
北京市 · 北京市
地址:北京市海淀区永定路50号
联系电话:010-68387813
数据更新时间
2026-05-12
当前展示该机构前 64 条能力;该机构共 64 条能力记录。
按标准归类为 17 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
GJB 360A-1996
电子及电气元件试验方法 方法
检测项目:恒定湿热试验、交变湿热试验、冲击试验、振动试验、密封性试验、焊接试验、终端牢固性试验、粒子碰撞噪声检测 等 14 项,点击展开全部
检测对象:电子电气产品及元器件
GJB 360B-2009
电子及电气元件试验方法 方法
检测项目:恒定湿热试验、交变湿热试验、冲击试验、振动试验、终端牢固性试验、粒子碰撞噪声检测、介质耐电压试验、绝缘电阻试验 等 11 项,点击展开全部
检测对象:电子电气产品及元器件
GJB 548B-2005
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目:温度冲击、交变湿热试验、冲击试验、振动试验、密封性试验、终端牢固性试验、高温试验、粒子碰撞噪声检测 等 10 项,点击展开全部
检测对象:电子电气产品及元器件
GJB 548A-1996
微电子器件试验方法和程序 方法1010A
检测项目:温度冲击、交变湿热试验、冲击试验、振动试验、高温试验、密封性试验、终端牢固性试验、粒子碰撞噪声检测 等 9 项,点击展开全部
检测对象:电子电气产品及元器件
GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目:温度冲击、振动试验、尺寸测量、盐雾试验、绝缘电阻试验
检测对象:电子电气产品及元器件
GJB 360B-1996
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
检测项目:密封性试验、焊接试验、耐焊接热
检测对象:电子电气产品及元器件
GJB 548B-2015
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目:盐雾试验、绝缘电阻试验
检测对象:电子电气产品及元器件
GJB 150.4A-2009
军用装备试验室环境试验方法 第4部分:低温试验
检测项目:低温试验
检测对象:电子电气产品及元器件
GJB 150.9A-2009
军用装备试验室环境试验方法 第9部分:湿热试验
检测项目:交变湿热试验
检测对象:电子电气产品及元器件
GJB 150.3A-2009
军用装备试验室环境试验方法 第3部分:高温试验
检测项目:高温试验
检测对象:电子电气产品及元器件
GJB3514A-2021
声表面波器件电性能测试方法 GJB 3514A-2021 方法1001、1002、1003、1004、1005、1006、1007、1008、1010、1011、2002.1、
检测项目:微波测试
检测对象:电子电气产品及元器件
GJB2600A-2009
声表面波滤波器件通用规范 GJB 2600A-2009
检测项目:微波测试
检测对象:电子电气产品及元器件
GJB10171-2021
电源滤波器通用规范 GJB 10171-2021 4.6.3、4.6.4、
检测项目:微波测试
检测对象:电子电气产品及元器件
GJB7953-2012
LC滤波器通用规范 GJB 7953-2012 4.6.7,附录A
检测项目:微波测试
检测对象:电子电气产品及元器件
GJB1518A-2015
射频干扰滤波器通用规范 GJB 1518A-2015 4.5.3、4.5.9、
检测项目:微波测试
检测对象:电子电气产品及元器件
GB/T 26497-2022
电子天平
检测项目:重量
检测对象:电子电气产品及元器件
GJB150.5A-2009
军用装备试验室环境试验方法第5部分:温度冲击试验
检测项目:温度冲击
检测对象:电子电气产品及元器件