当前查看：无锡力芯微电子股份有限公司实验中心
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2026-05-12
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GB/T 4377-2018
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目：电压调整率(<i>S</i><sub>v</sub>)、电源纹波抑制比(<i>S</i><sub>rip</sub>)、输出噪声电压(<i>V</i><sub>NO</sub>)测试、耗散电流(<i>I</i><sub>D</sub>)和耗散电流变化(△<i>I</i><sub>D</sub>)
检测对象：集成电路
JESD22-A108G-2022
温度,偏置和使用寿命
检测项目：高温寿命试验、低温寿命试验
检测对象：集成电路
JESD22-A113I-2020
可靠性测试前的非封闭表面贴装器件的预处理
检测项目：预处理
检测对象：集成电路
ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2023
人体模式静电放电敏感度测试-元件等级
检测项目：人体模型静电敏感度试验
检测对象：集成电路
JESD22-A103E.01-2021
高温存储寿命
检测项目：高温存储试验
检测对象：集成电路
JESD22-A101D.01-2021
稳态温湿偏置寿命试验
检测项目：高温高湿寿命试验
检测对象：集成电路
JESD22-A102E-2015
加速抗潮性-无偏高压蒸煮器
检测项目：高压蒸煮试验
检测对象：集成电路
JESD22-A118B.01-2021
加速抗潮性-无偏高加速应力试验
检测项目：高加速应力试验
检测对象：集成电路
JESD22-A106B.02-2022
热冲击
检测项目：冷热冲击试验
检测对象：集成电路
JESD22-A104F.01-2023
温度循环
检测项目：温度循环试验
检测对象：集成电路