天航长鹰江苏科技有限公司

GB/T 2423.21-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验M：低气压

IEC 60068-2-30

电工电子产品环境试验 试验 Db：交变湿热(12h+12h 循环) :

GB/T 2423.4-2008

电工电子产品环境试验 试验 Db：交变湿热(12h+12h 循环)

IEC 60068-2-13

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验M：低气压 :

IEC 60068-2-11

电工电子产品环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 Ka：盐雾 :

GB/T 2423.17-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ka：盐雾

IEC 60068-2-40

电工电子产品 环境试验 第2部分：试验方法 试验Z／AM：低温／低气压综合试验 :

GBT 2423.25-2008

电工电子产品 环境试验 第2部分：试验方法 试验Z／AM：低温／低气压综合试验

IEC 60068-2-41

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z∕BM：高温∕低气压综合试验 :

GBT 2423.26-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z∕BM：高温∕低气压综合试验

IEC 60068-2-7

电工电子产品环境试验 第 2 部分 ：试验方法 试验 Ga和导则:稳态加速度 :

GB/T 2423.15-2008

电工电子产品环境试验 第 2 部分 ：试验方法 试验 Ga和导则:稳态加速度

电子产品环境应力筛选方法 GJB 1032A-2020 6 筛选程序

电子产品环境应力筛选方法 GJB 1032A-2020 6 筛选程序

GB/T 2423.8-1995

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ed：自由跌落

GB/T 5169.5-2008

电工电子产品着火危险试验 第5部分 试验火焰 针焰试验方法装置、确认试验方法和导则

GB/T 5169.5-2020

电工电子产品着火危险试验 第5部分 试验火焰 针焰试验方法装置、确认试验方法和导则

GB/T 2423.1-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温

IEC 60068-2-1

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温试验 :

IEC 60068-2-2

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温 :

GB/T 2423.2-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温

电子产品环境应力筛选方法 GJB 1032-

电子产品环境应力筛选方法 GJB 1032-

电子产品环境应力筛选方法 GJB 1032A-

电子产品环境应力筛选方法 GJB 1032A-

技术侦察装备通用技术要求 第7部分:环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006

技术侦察装备通用技术要求 第7部分:环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006

军用计算机通用规范 GJB 322A-1998

军用计算机通用规范 GJB 322A-1998

军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009

军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009

GB/T 9813.2-2016

计算机通用规范 第2部分：便携式微型计算机 5.8.5 振动试验

GB/T 9813.1-2016

计算机通用规范 第1部分：台式微型计算机 5.8.5 振动试验

GB/T 9813.3-2017

计算机通用规范 第3部分：服务器 5.8.5 振动试验

GB/T 9813.4-2017

计算机通用规范 第3部分：工业应用微型计算机 5.8.5 振动试验

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001

GB/T 28046.4-2011

道路车辆-电气及电子设备环境条件和试验 第 4 部分：气候负荷 5.7稳态湿热

GB/T 14710-2009

医用电器环境要求及试验方法 11.7 振动试验

GB/T 2423.22-2012

环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化

GB/T 21563-2018

轨道交通 机车车辆设备 冲击和振动试验 10 冲击试验条件

IEC 61373

铁路应用-机车车辆设备-冲击和振动试验 :2010 10 冲击试验条件

机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160G- 2010 第7章 工作冲击和坠撞安全

机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160G- 2010 第7章 工作冲击和坠撞安全

军用装备实验室环境试验方法 第2部分：低气压（高度）试验 GJB 150.2A-

军用装备实验室环境试验方法 第2部分：低气压（高度）试验 GJB 150.2A-

机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160G- 2010 第4章 温度-高度

机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160G- 2010 第4章 温度-高度

军用装备实验室环境试验方法 第28部分：酸性大气试验 GJB 150.28-

军用装备实验室环境试验方法 第28部分：酸性大气试验 GJB 150.28-

机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160G- 2010 第5章 温度变化

机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160G- 2010 第5章 温度变化

IEC 60068-2-14

环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化 :

军用设备环境试验方法 湿热试验 GJB 150.9-

军用设备环境试验方法 湿热试验 GJB 150.9-

军用装备实验室环境试验方法 第9部分：湿热试验 GJB 150.9A-

军用装备实验室环境试验方法 第9部分：湿热试验 GJB 150.9A-

技术侦察装备通用技术要求 第7部分:环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006 5.12.4.2 交变湿热

技术侦察装备通用技术要求 第7部分:环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006 5.12.4.2 交变湿热

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.29 湿热

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.29 湿热

舰船电子设备环境试验 交变湿热试验 GJB 4.6-

舰船电子设备环境试验 交变湿热试验 GJB 4.6-

军用计算机通用规范 GJB 322A-1998 4.7.10.2 湿热试验

军用计算机通用规范 GJB 322A-1998 4.7.10.2 湿热试验

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.4 湿热

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.4 湿热

IEC 60068-2-38

环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 Z/AD：温度/湿度组合循环试验 :

GB/T 2423.34-2012

环境试验 第２ 部分： 试验方法 试验Z/AD：温度/湿度组合循环试验

机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160G- 2010 第6章 湿热

机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160G- 2010 第6章 湿热

EN 50155-2017 13.4.7

铁路设施-机车车辆-电子设备 交变湿热试验

技术侦察装备通用技术要求 第7部分:环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006 5.12.4.1 恒定湿热

技术侦察装备通用技术要求 第7部分:环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006 5.12.4.1 恒定湿热

舰船电子设备环境试验 恒定湿热试验 GJB 4.5-

舰船电子设备环境试验 恒定湿热试验 GJB 4.5-

IEC 60068-2-78

环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验 :

GB/T 2423.3-2016

环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验

GB/T 2423.50-2012

环境试验 第2部分：试验方法 试验Cy 恒定湿热 主要用于元件的加速试验

军用设备环境试验方法 振动试验 GJB 150.16-

军用设备环境试验方法 振动试验 GJB 150.16-

军用装备实验室环境试验方法 第16部分：振动试验 GJB 150.16A-

军用装备实验室环境试验方法 第16部分：振动试验 GJB 150.16A-

舰船电子设备环境试验 振动试验 GJB 4.7-

舰船电子设备环境试验 振动试验 GJB 4.7-

技术侦察装备通用技术要求 第7部分:环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006 5.11 振动试验

技术侦察装备通用技术要求 第7部分:环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006 5.11 振动试验

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.38 振动

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.38 振动

IEC 60068-2-64

环境试验第 2 部分：试验方法试验 Fh：宽带随机振动和导则 :

GB/T 2423.56-2018

环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动和导则

GB/T 2423.56-2023

环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动和导则

军用计算机通用规范 GJB 322A-1998 4.7.10.3 振动试验

军用计算机通用规范 GJB 322A-1998 4.7.10.3 振动试验

IEC 60068-2-6

环境试验 第 2 部分:试验方法 试验 Fc:振动(正弦) :

GB/T 2423.10-2019

环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc：振动（正弦）

机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160G- 2010 第8章 振动

机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160G- 2010 第8章 振动

GB/T 2423.48-2018

环境试验 第2部分：试验方法 试验Ff：振动 时间历程和正弦拍频法

军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009 4.6.5.3 振动试验

军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009 4.6.5.3 振动试验

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2007 扫频振动方法2026.1随机振动

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2007 扫频振动方法2026.1随机振动

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.7 振动

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.7 振动

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2007 扫频振动方法2026.1随机振动

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2007 扫频振动方法2026.1随机振动

半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97 方法2056 扫频振动、2046 振动疲劳、2051 振动噪声

半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97 方法2056 扫频振动、2046 振动疲劳、2051 振动噪声

半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法2056 扫频振动、2046 振动疲劳

半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法2056 扫频振动、2046 振动疲劳

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法201 低频振动试验、方法204 高频振动试验、方法214随机振动试验

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法201 低频振动试验、方法204 高频振动试验、方法214随机振动试验

有可靠性指标的电磁继电器总规范 GJB 65B-99 4 8.11.1 、4

有可靠性指标的电磁继电器总规范 GJB 65B-99 4 8.11.1 、4

有失效率等级的电磁继电器通用规范 GJB 65C-2021 4 8.10.1 、4

有失效率等级的电磁继电器通用规范 GJB 65C-2021 4 8.10.1 、4

军用设备环境试验方法 冲击试验 GJB 150.18-

军用设备环境试验方法 冲击试验 GJB 150.18-

军用装备实验室环境试验方法 第18部分：冲击试验 GJB 150.18A-

军用装备实验室环境试验方法 第18部分：冲击试验 GJB 150.18A-

舰船电子设备环境试验 颠震试验 GJB 4.8-

舰船电子设备环境试验 颠震试验 GJB 4.8-

技术侦察装备通用技术要求 第7部分:环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006 5.10 冲击试验

技术侦察装备通用技术要求 第7部分:环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006 5.10 冲击试验

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.39冲击、4.7.42颠震

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.39冲击、4.7.42颠震

GB/T 2423.5-2019

环境试验 第2部分：试验方法 试验Ea和导则：冲击

军用计算机通用规范 GJB 322A-1998 4.7.10.4 冲击试验

军用计算机通用规范 GJB 322A-1998 4.7.10.4 冲击试验

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.5 冲击

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.5 冲击

IEC 60068-2-27

环境试验 第 2 部分:试验方法 试验 Ea 和导则:冲击 :

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.6 碰撞

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.6 碰撞

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2002.1机械冲击

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2002.1机械冲击

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2002.1机械冲击

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2002.1机械冲击

半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97 方法2016 冲击

半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97 方法2016 冲击

半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法2016 冲击

半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法2016 冲击

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法213 冲击（规定脉冲）

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法213 冲击（规定脉冲）

军用设备环境试验方法 低气压（高度）试验 GJB 150.2-

军用设备环境试验方法 低气压（高度）试验 GJB 150.2-

技术侦察装备通用技术要求 第7部分:环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006 5.4 低气压试验

技术侦察装备通用技术要求 第7部分:环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006 5.4 低气压试验

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.30 低气压

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.30 低气压

军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009 4.6.5.2 低气压（海拔高度）试验

军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009 4.6.5.2 低气压（海拔高度）试验

军用计算机通用规范 GJB 322A-1998 4.7.10.7 压力试验

军用计算机通用规范 GJB 322A-1998 4.7.10.7 压力试验

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.9 低气压

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.9 低气压

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1001 低气压（高空工作）

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1001 低气压（高空工作）

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1001 低气压（高空工作）

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1001 低气压（高空工作）

半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97 方法1001 低气压

半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97 方法1001 低气压

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法105 低气压试验

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法105 低气压试验

IEC 60068-2-52

环境试验 第2部分：试验方法 试验Kb：盐雾，交变（氯化钠溶液） :

GB/T 2423.18-2012

环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 Kb：盐雾,交变(氯化钠溶液)

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法101 盐雾试验

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法101 盐雾试验

GB/T 2423.18-2021

环境试验 第2部分：试验方法 试验Kb：盐雾，交变（氯化钠溶液）

军用设备环境试验方法 盐雾试验 GJB 150.11-

军用设备环境试验方法 盐雾试验 GJB 150.11-

军用装备实验室环境试验方法 第11部分： 盐雾试验 GJB 150.11A-

军用装备实验室环境试验方法 第11部分： 盐雾试验 GJB 150.11A-

技术侦察装备通用技术要求 第7部分:环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006 5.16 盐雾试验

技术侦察装备通用技术要求 第7部分:环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006 5.16 盐雾试验

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.47 盐雾

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.47 盐雾

机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160G- 2010 第14章 盐雾

机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160G- 2010 第14章 盐雾

军用计算机通用规范 GJB 322A-1998 4.7.10.14 盐雾试验

军用计算机通用规范 GJB 322A-1998 4.7.10.14 盐雾试验

军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009 4.6.6.2 盐雾试验

军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009 4.6.6.2 盐雾试验

舰船电子设备环境试验 盐雾试验 GJB 4.11-

舰船电子设备环境试验 盐雾试验 GJB 4.11-

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.13 盐雾

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.13 盐雾

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1009.2 盐雾（盐汽）

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1009.2 盐雾（盐汽）

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1009.2 盐雾（盐汽）

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1009.2 盐雾（盐汽）

半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97 方法1041 盐气（侵蚀）方法1046 盐雾（腐蚀）

半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97 方法1041 盐气（侵蚀）方法1046 盐雾（腐蚀）

半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法1041 盐气（侵蚀）方法1046 盐雾（腐蚀）

半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法1041 盐气（侵蚀）方法1046 盐雾（腐蚀）

军用设备环境试验方法 温度-高度试验 GJB 150.6-

军用设备环境试验方法 温度-高度试验 GJB 150.6-

军用设备环境试验方法温度-湿度-振动-高度试验 GJB 150.24-

军用设备环境试验方法温度-湿度-振动-高度试验 GJB 150.24-

军用装备实验室环境试验方法 第24部分：温度-湿度-振动-高度试验 GJB 150.24A-

军用装备实验室环境试验方法 第24部分：温度-湿度-振动-高度试验 GJB 150.24A-

技术侦察装备通用技术要求 第7部分:环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006 5.5 温度/低气压试验

技术侦察装备通用技术要求 第7部分:环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006 5.5 温度/低气压试验

军用设备环境试验方法 温度-湿度-高度试验 GJB 150.19-

军用设备环境试验方法 温度-湿度-高度试验 GJB 150.19-

IEC 60068-2-39

环境试验 第 2 部分: 试验方法 试验方法和导则: 温度/低气压或 温度/湿度/低气压综合试验 :

GB/T 2423.27

环境试验 第 2 部分: 试验方法 试验方法和导则: 温度/低气压或 温度/湿度/低气压综合试验 -

机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160G- 2010 第24章 结冰

机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160G- 2010 第24章 结冰

军用装备实验室环境试验方法 第15部分：加速度试验 GJB 150.15A-

军用装备实验室环境试验方法 第15部分：加速度试验 GJB 150.15A-

军用设备环境试验方法 加速度试验 GJB 150.15-

军用设备环境试验方法 加速度试验 GJB 150.15-

技术侦察装备通用技术要求 第7部分:环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006 5.8 加速度试验

技术侦察装备通用技术要求 第7部分:环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006 5.8 加速度试验

军用计算机通用规范 GJB 322A-1998 4.7.10.6 恒加速度试验

军用计算机通用规范 GJB 322A-1998 4.7.10.6 恒加速度试验

运载器、上面级和航天器试验要求 GJB 1027A-2020 5.4.7组件加速度试验

运载器、上面级和航天器试验要求 GJB 1027A-2020 5.4.7组件加速度试验

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2001 恒定加速度

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2001 恒定加速度

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2001.1 恒定加速度

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2001.1 恒定加速度

半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97 方法2006 恒定加速度

半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97 方法2006 恒定加速度

半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法2006 恒定加速度

半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法2006 恒定加速度

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法212 稳态加速度试验

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法212 稳态加速度试验

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.49 炮击振动

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.49 炮击振动

军用装备实验室环境试验方法 第 20 部分：炮击振动试验 GJB 150.20A-

军用装备实验室环境试验方法 第 20 部分：炮击振动试验 GJB 150.20A-

军用设备环境试验方法 飞机炮振试验 GJB 150.20-

军用设备环境试验方法 飞机炮振试验 GJB 150.20-

运载器、上面级和航天器试验要求 GJB 1027A-2005 6.4.4 组件鉴定热真空试验

运载器、上面级和航天器试验要求 GJB 1027A-2005 6.4.4 组件鉴定热真空试验

运载器、上面级和航天器试验要求 GJB 1027A-2020 5.4.9 组件热真空试验

运载器、上面级和航天器试验要求 GJB 1027A-2020 5.4.9 组件热真空试验

技术侦查装备通用技术要求 第七部分：环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006 5.7 太阳辐射试验

技术侦查装备通用技术要求 第七部分：环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006 5.7 太阳辐射试验

军用计算机通用规范 GJB 322A-1998 4.7.10.9 日光辐射试验

军用计算机通用规范 GJB 322A-1998 4.7.10.9 日光辐射试验

军用装备实验室环境试验方法 第7部分：太阳辐射试验 GJB 150.7A-

军用装备实验室环境试验方法 第7部分：太阳辐射试验 GJB 150.7A-

军用设备环境试验方法 太阳辐射试验 GJB 150.7-

军用设备环境试验方法 太阳辐射试验 GJB 150.7-

IEC 60068-2-5

环境试验 第2部分：试验方法 试验S：模拟地面上的太阳辐射及太阳辐射试验和气候老化试验导则 :

GB/T 2423.24-2022

环境试验 第2部分：试验方法 试验S：模拟地面上的太阳辐射及太阳辐射试验和气候老化试验导则

舰船电子设备环境试验 日光辐射试验 GJB 4.12-

舰船电子设备环境试验 日光辐射试验 GJB 4.12-

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.44 太阳辐射

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.44 太阳辐射

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.16 太阳辐射

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.16 太阳辐射

军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009 4.6.6.7 太阳辐射试验

军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009 4.6.6.7 太阳辐射试验

可靠性增长试验 GJB 1407-

可靠性增长试验 GJB 1407-

可靠性鉴定和验收试验 GJB 899A-

可靠性鉴定和验收试验 GJB 899A-

军用装备实验室环境试验方法 第10部分：霉菌试验 GJB 150.10A-

军用装备实验室环境试验方法 第10部分：霉菌试验 GJB 150.10A-

军用设备环境试验方法 霉菌试验 GJB 150.10-

军用设备环境试验方法 霉菌试验 GJB 150.10-

舰船电子设备环境试验 霉菌试验 GJB 4.10-

舰船电子设备环境试验 霉菌试验 GJB 4.10-

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.12 霉菌

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.12 霉菌

机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160G- 2010 第13章 霉菌

机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160G- 2010 第13章 霉菌

IEC 60068-2-10

环境试验 第2部分:试验方法试验J和导则:长霉 :

GB/T 2423.16-2022

环境试验 第2部分:试验方法试验J和导则:长霉

军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009 4.6.6.1 防霉试验

军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009 4.6.6.1 防霉试验

军用装备实验室环境试验方法 第8部分：淋雨试验 GJB 150.8A-

军用装备实验室环境试验方法 第8部分：淋雨试验 GJB 150.8A-

军用设备环境试验方法 淋雨试验 GJB 150.8-

军用设备环境试验方法 淋雨试验 GJB 150.8-

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.32 淋雨

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.32 淋雨

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.11 淋雨

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.11 淋雨

军用装备实验室环境试验方法 第13部分：爆炸性大气试验 GJB 150.13A-

军用装备实验室环境试验方法 第13部分：爆炸性大气试验 GJB 150.13A-

军用设备环境试验方法 爆炸性大气试验 GJB 150.13-

军用设备环境试验方法 爆炸性大气试验 GJB 150.13-

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.18 爆炸性大气

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.18 爆炸性大气

军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009 4.6.6.3 爆炸性大气试验

军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009 4.6.6.3 爆炸性大气试验

机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160G-2010 第9章 爆炸大气

机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160G-2010 第9章 爆炸大气

运载器、上面级和航天器试验要求 GJB 1027A-2020 5.4.15.5 组件爆炸大气试验

运载器、上面级和航天器试验要求 GJB 1027A-2020 5.4.15.5 组件爆炸大气试验

军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009 4.6.2.1 环境应力筛选

军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009 4.6.2.1 环境应力筛选

机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160G-2010 第10章 防水性

机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160G-2010 第10章 防水性

军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009 4.6.5.1 温度和湿度试验

军用电子测试设备通用规范 GJB 3947A-2009 4.6.5.1 温度和湿度试验

GB/T 2423.35-2019

环境试验 第 2 部分：试验和导则 气候（温度、湿度）和动力学（振动、冲击）综合试验

军用装备实验室环境试验方法 第26部分：流体污染试验 GJB 150.26-

军用装备实验室环境试验方法 第26部分：流体污染试验 GJB 150.26-

GB/T 2423.54-2022

环境试验 第2部分：试验方法 试验Xc：流体污染

军用装备实验室环境试验方法 第12部分：砂尘试验 GJB 150.12A-

军用装备实验室环境试验方法 第12部分：砂尘试验 GJB 150.12A-

GB/T 4937-1995

半导体器件机械和气候试验方法 第IV章

GB/T 4937.31-2023

半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分;塑封器件的易燃性（内部引起的）

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法111 有焰燃烧性试验

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法111 有焰燃烧性试验

GB/T 4937.4-2012

半导体器件机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验（HAST）

半导体器件机械和气候试验方法 SJ/T 10745-96

半导体器件机械和气候试验方法 SJ/T 10745-96

半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97 方法1021 耐湿

半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97 方法1021 耐湿

半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法1021 耐湿

半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法1021 耐湿

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 1004.1 耐湿

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 1004.1 耐湿

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法 1004.1 耐湿

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法 1004.1 耐湿

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 106 耐湿

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 106 耐湿

军用设备环境试验方法 低温试验 GJB 150.4-

军用设备环境试验方法 低温试验 GJB 150.4-

军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验 GJB 150.4A-

军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验 GJB 150.4A-

技术侦察装备通用技术要求 第7部分:环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006 5.2 低温试验

技术侦察装备通用技术要求 第7部分:环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006 5.2 低温试验

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.27 低温试验

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.27 低温试验

舰船电子设备环境试验 低温试验 GJB 4.3-

舰船电子设备环境试验 低温试验 GJB 4.3-

舰船电子设备环境试验 低温贮存试验 GJB 4.4-

舰船电子设备环境试验 低温贮存试验 GJB 4.4-

军用计算机通用规范 GJB 322A-1998 4.7.10.1.1 低温试验

军用计算机通用规范 GJB 322A-1998 4.7.10.1.1 低温试验

ISO 16750-4

道路车辆-电气及电子设备环境条件和试验 第 4 部分：气候负荷 :2010 5.1.1 低温试验

EN 50155-2017 13.4.4

铁路设施-机车车辆-电子设备 低温启动试验，13.4.6 低温存储试验

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.3 低温

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.3 低温

机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160G-2010 4.5.1 、

机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160G-2010 4.5.1 、

军用设备环境试验方法 高温试验 GJB 150.3-

军用设备环境试验方法 高温试验 GJB 150.3-

军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验 GJB 150.3A-

军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验 GJB 150.3A-

技术侦察装备通用技术要求 第7部分:环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006 5.3 高温试验

技术侦察装备通用技术要求 第7部分:环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006 5.3 高温试验

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.28 高温试验

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.28 高温试验

舰船电子设备环境试验 高温试验 GJB 4.2-

舰船电子设备环境试验 高温试验 GJB 4.2-

军用计算机通用规范 GJB 322A-1998 4.7.10.1.2 高温试验

军用计算机通用规范 GJB 322A-1998 4.7.10.1.2 高温试验

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.2 高温

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.2 高温

机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160G-2010 4.5.3、

机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160G-2010 4.5.3、

EN 50155-2017 13.4.5

铁路设施-机车车辆-电子设备 干热试验

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1008.1 稳定性烘焙

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1008.1 稳定性烘焙

军用设备环境试验方法 低气压（高度）试验 GJB150.2-

军用设备环境试验方法 低气压（高度）试验 GJB150.2-

军用设备环境试验方法 低温试验 GJB150.4-

军用设备环境试验方法 低温试验 GJB150.4-

军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验 GJB150.4A-

军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验 GJB150.4A-

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1008.1 稳定性烘焙

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1008.1 稳定性烘焙

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.27(附录A01)

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.27(附录A01)

军用设备环境试验方法 高温试验 GJB150.3-

军用设备环境试验方法 高温试验 GJB150.3-

军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验 GJB150.3A-

军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验 GJB150.3A-

半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97 方法1031 高温寿命（非工作）

半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97 方法1031 高温寿命（非工作）

军用设备环境试验方法 温度冲击试验 GJB150.5-

军用设备环境试验方法 温度冲击试验 GJB150.5-

军用装备实验室环境试验方法 第5部分 温度冲击试验 GJB150.5A-

军用装备实验室环境试验方法 第5部分 温度冲击试验 GJB150.5A-

半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法1032 高温寿命（非工作）

半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法1032 高温寿命（非工作）

军用装备实验室环境试验方法 第9部分：湿热试验 GJB150.9A-

军用装备实验室环境试验方法 第9部分：湿热试验 GJB150.9A-

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.29(附录A07)

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.29(附录A07)

军用设备环境试验方法 温度冲击试验 GJB 150.5-

军用设备环境试验方法 温度冲击试验 GJB 150.5-

军用设备环境试验方法 积冰/冻雨试验 GJB 150.22-

军用设备环境试验方法 积冰/冻雨试验 GJB 150.22-

军用装备实验室环境试验方法 第22部分：积冰/冻雨试验 GJB 150.22A-

军用装备实验室环境试验方法 第22部分：积冰/冻雨试验 GJB 150.22A-

机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160G-2010 第24章

机载设备环境条件和试验程序 RTCA/DO-160G-2010 第24章

军用设备环境试验方法 盐雾试验 GJB150.11-

军用设备环境试验方法 盐雾试验 GJB150.11-

军用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验 GJB 150.5A-

军用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验 GJB 150.5A-

军用设备环境试验方法 振动试验 GJB150.16-

军用设备环境试验方法 振动试验 GJB150.16-

军用装备实验室环境试验方法 第16部分：振动试验 GJB150.16A-

军用装备实验室环境试验方法 第16部分：振动试验 GJB150.16A-

技术侦察装备通用技术要求 第7部分:环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006 5.6 温度冲击试验

技术侦察装备通用技术要求 第7部分:环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006 5.6 温度冲击试验

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.38(附录A05)

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.38(附录A05)

军用设备环境试验方法 飞机炮振试验 GJB150.20-

军用设备环境试验方法 飞机炮振试验 GJB150.20-

军用装备实验室环境试验方法 第20部分：炮击振动试验 GJB150.20A-

军用装备实验室环境试验方法 第20部分：炮击振动试验 GJB150.20A-

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.49(附录A04方法3)

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.49(附录A04方法3)

军用设备环境试验方法 冲击试验 GJB150.18-

军用设备环境试验方法 冲击试验 GJB150.18-

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.31 温度冲击

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.31 温度冲击

军用装备实验室环境试验方法 第18部分：冲击试验 GJB150.18A-

军用装备实验室环境试验方法 第18部分：冲击试验 GJB150.18A-

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.39（附录A04）

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 4.7.39（附录A04）

舰船电子设备环境试验 冲击试验 GJB 4.9-

舰船电子设备环境试验 冲击试验 GJB 4.9-

GB/T2423.27-2020

环境试验 第2部分：试验方法 试验方法和导则：温度/低气压或温度/湿度/低气压综合试验

军用设备环境试验方法 温度-高度试验 GJB150.6-

军用设备环境试验方法 温度-高度试验 GJB150.6-

军用设备环境试验方法 温度-湿度-振动-高度试验 GJB150.24-

军用设备环境试验方法 温度-湿度-振动-高度试验 GJB150.24-

军用装备实验室环境试验方法 第24部分：温度-湿度-振动-高度试验 GJB150.24A-

军用装备实验室环境试验方法 第24部分：温度-湿度-振动-高度试验 GJB150.24A-

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1010.1 温度循环

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1010.1 温度循环

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1010.1 温度循环

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1010.1 温度循环

军用计算机通用规范 GJB 322A-1998 4.7.10.1.3 高低温冲击

军用计算机通用规范 GJB 322A-1998 4.7.10.1.3 高低温冲击

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.17 温度冲击

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.17 温度冲击

半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97 方法1051 温度循环（空气-空气）

半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97 方法1051 温度循环（空气-空气）

半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法1051 温度循环（空气-空气）

半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法1051 温度循环（空气-空气）

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法107 温度冲击试验

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法107 温度冲击试验