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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“GB/T 2423.1-2008”筛选，展示 1 条相关能力。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T 2423.1-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温
检测项目：低温储存
检测对象：半导体电子元器件