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2026-05-12
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GB/T 4587-2023
半导体器件 分立器件 第7部分：双极型晶体管
检测项目：集电极-基极截止电流、发射极-基极截止电流、集电极-发射极截止电流、集电极-发射极饱和电压、基极-发射极饱和电压、共发射极正向电流传输比的静态值、集电极-基极电压、发射极-基极电压 等 9 项，点击展开全部
检测对象：双极型晶体管
GB/T 17574-1998
半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路 第IV篇第2节
检测项目：输出高电平电压、输出低电平电压、静态条件下的电源电流、动态条件下的总电源电流、功能检验、输入高电平电流、输入低电平电流
检测对象：CMOS数字集成电路
GB/T 17940-2000
半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 第Ⅳ篇 第2节
检测项目：输入失调电压、输入失调电流、输入偏置电流、开环电压增益、共模抑制比
检测对象：半导体集成电路（运算放大器）
GB/T 6798-1996
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：输入失调电压、输入失调电流、输入偏置电流、开环电压增益、输出低电平电压
检测对象：半导体集成电路（电压比较器）
电荷耦合成像器件测试方法 GJB 7951-2012 方法
电荷耦合成像器件测试方法 GJB 7951-2012 方法
检测项目：暗信号、暗信号非均匀性、饱和输出信号、光响应非均匀性
检测对象：电荷耦合成像器件
GB/T 4586-1994
半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 第IV章
检测项目：栅极截止电流或栅极漏泄电流、漏极电流、漏极截止电流、栅-源阈值电压
检测对象：场效应晶体管
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
检测项目：电离辐射(总剂量)试验
检测对象：微电子器件
宇航用半导体器件总剂量辐照试验方法 QJ10004A-
宇航用半导体器件总剂量辐照试验方法 QJ10004A-
检测项目：电离辐射(总剂量)试验
检测对象：微电子器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021
检测项目：电离辐射(总剂量)试验
检测对象：微电子器件