当前查看：深圳国微福芯技术有限公司实验室
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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子器件”筛选，展示 14 条相关能力。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：外部目检、粒子碰撞噪声检测试验、芯片粘接的超声检测、外形尺寸、温度循环、老炼试验、恒定加速度
检测对象：集成电路
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
检测项目：恒定加速度、粒子碰撞噪声检测试验、外部目检、外形尺寸、温度循环、老炼试验
检测对象：集成电路
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021
检测项目：芯片粘接的超声检测
检测对象：集成电路