当前查看：长沙韶光半导体有限公司检测实验室
湖南省
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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“微电子器件”筛选，展示 38 条相关能力。
按标准归类为 6 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《微电子器件试验方法和程序》 GJB548B-2005
《微电子器件试验方法和程序》 GJB548B-2005
检测项目：温度循环、稳态寿命、恒定加速度、稳定性烘焙、粒子碰撞噪声检测试验、耐湿、盐雾、热冲击 等 10 项，点击展开全部
检测对象：电子元器件
《微电子器件试验方法和程序》 GJB548C-2021
《微电子器件试验方法和程序》 GJB548C-2021
检测项目：稳态寿命、恒定加速度、稳定性烘焙、粒子碰撞噪声检测试验、耐湿、温度循环、盐雾、热冲击 等 10 项，点击展开全部
检测对象：电子元器件
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005
检测项目：芯片粘接的超声检测、X射线检查、外形尺寸、芯片剪切强度、键合强度、扫频振动、机械冲击、外部目检
检测对象：电子元器件
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548C-2021
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548C-2021
检测项目：芯片粘接的超声检测、X射线检查、外形尺寸、芯片剪切强度、键合强度、扫频振动、机械冲击、外部目检
检测对象：电子元器件
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005 2010、2013、 2014、
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005 2010、2013、 2014、
检测项目：内部目检
检测对象：电子元器件
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548C-2021 2010、2013、 2014、
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548C-2021 2010、2013、 2014、
检测项目：内部目检
检测对象：电子元器件