北京国基科航第三代半导体检测技术有限公司

电子及电气元件试验方法 GJB 360A-96 方法

电子及电气元件试验方法 GJB 360A-96 方法

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 A

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 A

半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97 方法

半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法

半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法

半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法

军用设备环境试验方法 高温试验 GJB 150.3-

军用设备环境试验方法 高温试验 GJB 150.3-

GB/T 2423.2-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温

舰船电子设备环境试验-高温试验 GJB 4.2-

舰船电子设备环境试验-高温试验 GJB 4.2-

军用设备环境试验方法 低温试验 GJB 150.4-

军用设备环境试验方法 低温试验 GJB 150.4-

军用装备实验室环境试验方法 第4部分 低温试验 GJB 150.4A-

军用装备实验室环境试验方法 第4部分 低温试验 GJB 150.4A-

GB/T 2423.1-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温

舰船电子设备环境试验 低温试验 GJB 4.3-

舰船电子设备环境试验 低温试验 GJB 4.3-

舰船电子设备环境试验 低温贮存试验 GJB 4.4-

舰船电子设备环境试验 低温贮存试验 GJB 4.4-

军用设备环境试验方法 温度冲击试验 GJB 150.5-

军用设备环境试验方法 温度冲击试验 GJB 150.5-

军用装备实验室环境试验方法 第5部分 温度冲击试验 GJB 150.5A-

军用装备实验室环境试验方法 第5部分 温度冲击试验 GJB 150.5A-

军用装备实验室环境试验方法 第3部分 高温试验 GJB 150.3A-

军用装备实验室环境试验方法 第3部分 高温试验 GJB 150.3A-

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法1010A

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法1010A

电子产品环境应力筛选方法 GJB 1032A-2020

电子产品环境应力筛选方法 GJB 1032A-2020

GB/T 2423.22-2002

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化

GB/T 2423.22-2012

环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化

军用设备环境试验方法 湿热试验 GJB 150.9-

军用设备环境试验方法 湿热试验 GJB 150.9-

军用设备环境试验方法 第9部分湿热试验 GJB 150.9A-

军用设备环境试验方法 第9部分湿热试验 GJB 150.9A-

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法1004A

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法1004A

GB/T 2423.3-2016

环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验

舰船电子设备环境试验 恒定湿热试验 GJB 4.5-

舰船电子设备环境试验 恒定湿热试验 GJB 4.5-

GB/T 2423.4-2008

电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验Db：交变湿热（12h+12h）循环

舰船电子设备环境试验 交变湿热试验 GJB 4.6-

舰船电子设备环境试验 交变湿热试验 GJB 4.6-

军用设备环境试验方法 盐雾试验 GJB 150.11-

军用设备环境试验方法 盐雾试验 GJB 150.11-

军用装备实验室环境试验方法 第11部分：盐雾试验 GJB 150.11A-

军用装备实验室环境试验方法 第11部分：盐雾试验 GJB 150.11A-

GB/T 2423.17-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ka：盐雾

GB/T 2423.18-2012

环境试验 第2部分：试验方法试验Kb:盐雾，交变（氯化钠溶液）

GB/T 2423.18-2021

环境试验 第2部分：试验方法试验Kb:盐雾，交变（氯化钠溶液）

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001

军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法1009A

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法1009A

舰船电子设备环境试验 盐雾试验 GJB 4.11-

舰船电子设备环境试验 盐雾试验 GJB 4.11-

半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法1041、

半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法1041、

军用设备环境试验方法 霉菌试验 GJB 150.10-

军用设备环境试验方法 霉菌试验 GJB 150.10-

军用装备实验室环境试验方法 第10部分：霉菌试验 GJB 150.10A-

军用装备实验室环境试验方法 第10部分：霉菌试验 GJB 150.10A-

技术侦察装备通用技术要求 第七部分：环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006

技术侦察装备通用技术要求 第七部分：环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006

军用地面雷达通用规范 GJB 74A-1998

军用地面雷达通用规范 GJB 74A-1998

地空导弹制导雷达通用规范 GJB 2783A-2006

地空导弹制导雷达通用规范 GJB 2783A-2006

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008

地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008

舰船电子设备环境试验 霉菌试验 GJB 4.10-

舰船电子设备环境试验 霉菌试验 GJB 4.10-

GB/T 2423.16-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验J及导则：长霉

GB/T 2423.16-2022

环境试验 第2部分：试验方法试验J和导则：长霉

军用装备实验室环境试验方法 第28部分：酸性大气试验 GJB 150.28-

军用装备实验室环境试验方法 第28部分：酸性大气试验 GJB 150.28-

电子产品环境应力筛选方法 GJB 1032-

电子产品环境应力筛选方法 GJB 1032-

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法1008A

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法1008A

电子产品环境应力筛选方法 GJB 1032A-

电子产品环境应力筛选方法 GJB 1032A-

军用设备环境试验方法 振动试验 GJB 150.16-

军用设备环境试验方法 振动试验 GJB 150.16-

军用装备实验室环境试验方法 第16部分 振动试验 GJB 150.16A-

军用装备实验室环境试验方法 第16部分 振动试验 GJB 150.16A-

GB/T 2423.10-2019

环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc：振动（正弦）

GB/T 2423.56-2018

环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动和导则）

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1005.1、1006、1007、

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1005.1、1006、1007、

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2005.1、2007、

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2005.1、2007、

半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法2046、2056、

半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法2046、2056、

舰船电子设备环境试验 振动试验 GJB 4.7-

舰船电子设备环境试验 振动试验 GJB 4.7-

军用设备环境试验方法 冲击试验 GJB 150.18-

军用设备环境试验方法 冲击试验 GJB 150.18-

军用装备实验室环境试验方法 第18部分 冲击试验 GJB 150.18A-

军用装备实验室环境试验方法 第18部分 冲击试验 GJB 150.18A-

GB/T 2423.6-1995

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Eb和导则：碰撞

GB/T 2423.5-2019

环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击

半导体集成电路机械和气候试验方法 SJ/T 10745-1996 方法

半导体集成电路机械和气候试验方法 SJ/T 10745-1996 方法

GB/T 4937.4-2012

半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）

GB/T 2423.40-2013

环境试验 第2部分:试验方法 试验 Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热

塑封集成电路的潮湿敏感度分级试验方法 GJB 10163-2021

塑封集成电路的潮湿敏感度分级试验方法 GJB 10163-2021