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北京国基科航第三代半导体检测技术有限公司

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地址:北京市顺义区文良街15号院1号楼一层、二层(科技创新功能区)

联系电话:13815495817

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

当前机构按“电子器件”筛选,展示 45 条相关能力。

按标准归类为 19 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法

13 项检测项目

检测项目:密封、外部目检、键合强度、芯片剪切强度、粒子碰撞噪声检测、可焊性、芯片粘接的超声检测、X射线检查 等 13 项,点击展开全部

检测对象:电子元器件

密封外部目检键合强度芯片剪切强度粒子碰撞噪声检测可焊性芯片粘接的超声检测X射线检查扫描电子显微镜(SEM)检查

检测对象:电工电子电气产品与通用设备

温度循环耐湿试验盐雾试验振动试验

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法

13 项检测项目

检测项目:密封、外部目检、键合强度、芯片剪切强度、粒子碰撞噪声检测、可焊性、芯片粘接的超声检测、X射线检查 等 13 项,点击展开全部

检测对象:电子元器件

密封外部目检键合强度芯片剪切强度粒子碰撞噪声检测可焊性芯片粘接的超声检测X射线检查扫描电子显微镜(SEM)检查

检测对象:电工电子电气产品与通用设备

温度循环耐湿试验盐雾试验高温试验

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法1014A

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法1014A

1 项检测项目

检测项目:密封

检测对象:电子元器件

密封

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法2009A

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法2009A

1 项检测项目

检测项目:外部目检

检测对象:电子元器件

外部目检

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法2010A、2013、2017A

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法2010A、2013、2017A

1 项检测项目

检测项目:内部目检

检测对象:电子元器件

内部目检

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2010.1、2014、

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2010.1、2014、

1 项检测项目

检测项目:内部目检

检测对象:电子元器件

内部目检

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2010.2、2014、

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2010.2、2014、

1 项检测项目

检测项目:内部目检

检测对象:电子元器件

内部目检

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法2011A

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法2011A

1 项检测项目

检测项目:键合强度

检测对象:电子元器件

键合强度

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法2019A

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法2019A

1 项检测项目

检测项目:芯片剪切强度

检测对象:电子元器件

芯片剪切强度

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法2020A

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法2020A

1 项检测项目

检测项目:粒子碰撞噪声检测

检测对象:电子元器件

粒子碰撞噪声检测

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法2003A

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法2003A

1 项检测项目

检测项目:可焊性

检测对象:电子元器件

可焊性

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法2012A

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法2012A

1 项检测项目

检测项目:X射线检查

检测对象:电子元器件

X射线检查

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法1010A

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法1010A

1 项检测项目

检测项目:温度循环

检测对象:电工电子电气产品与通用设备

温度循环

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法1004A

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法1004A

1 项检测项目

检测项目:耐湿试验

检测对象:电工电子电气产品与通用设备

耐湿试验

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法1009A

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法1009A

1 项检测项目

检测项目:盐雾试验

检测对象:电工电子电气产品与通用设备

盐雾试验

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法1008A

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法1008A

1 项检测项目

检测项目:高温试验

检测对象:电工电子电气产品与通用设备

高温试验

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1005.1、1006、1007、

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1005.1、1006、1007、

1 项检测项目

检测项目:高温试验

检测对象:电工电子电气产品与通用设备

高温试验

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-96 方法

1 项检测项目

检测项目:振动试验

检测对象:电工电子电气产品与通用设备

振动试验

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2005.1、2007、

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2005.1、2007、

1 项检测项目

检测项目:振动试验

检测对象:电工电子电气产品与通用设备

振动试验

机构信息

机构名称

北京国基科航第三代半导体检测技术有限公司

所在地区

北京市 · 北京市

企业地址

北京市顺义区文良街15号院1号楼一层、二层(科技创新功能区)

法定代表人

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