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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子元器件”筛选，展示 18 条相关能力。
按标准归类为 14 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB 360A-1996
电子及电子元器件试验方法 方法
检测项目：高温试验
检测对象：电子及电子元器件
电子及电子元器件试验方法 GJB 360B-2009 方法
电子及电子元器件试验方法 GJB 360B-2009 方法
检测项目：高温试验
检测对象：电子及电子元器件
电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法
检测项目：冲击试验、低气压（高度）
检测对象：电子及电子元器件
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
检测项目：冲击试验、低气压（高度）
检测对象：电子及电子元器件
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法
检测项目：振动试验、温度冲击试验
检测对象：电子及电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：温度冲击试验、低气压（高度）
检测对象：电子及电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1008.1，
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1008.1，
检测项目：高温试验
检测对象：电子及电子元器件
微电子器件试验 方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验 方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：冲击试验
检测对象：电子及电子元器件
电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法 201，方法204，方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法 201，方法204，方法
检测项目：振动试验
检测对象：电子及电子元器件
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 201，方法204，方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 201，方法204，方法
检测项目：振动试验
检测对象：电子及电子元器件
电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法103，方法107 2空气介质法
电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法103，方法107 2空气介质法
检测项目：温度冲击试验
检测对象：电子及电子元器件
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法107 2空气介质法
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法107 2空气介质法
检测项目：温度冲击试验
检测对象：电子及电子元器件
电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法103，方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法103，方法
检测项目：湿热试验
检测对象：电子及电子元器件
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法103，方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法103，方法
检测项目：湿热试验
检测对象：电子及电子元器件