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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子器件”筛选，展示 10 条相关能力。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：外部目检、恒定加速度、粒子碰撞噪声检测试验、键合强度（破坏性键合拉力试验）、芯片剪切强度、外形尺寸、温度循环（温度冲击）、密封 等 9 项，点击展开全部
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
检测项目：随机振动
检测对象：电子元器件