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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子设备”筛选,展示 16 条相关能力。
按标准归类为 12 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
GB/T 5095.2-1997
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分;一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验 2a
检测项目:接触电阻-毫伏电压法、接触电阻-指定电流法、绝缘电阻试验、耐电压试验
检测对象:电子设备用机电元件
GB/T 5095.3-1997
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第3部分:载流容量试验 5a
检测项目:温升试验、温升-电流温度降额
检测对象:电子设备用机电元件
IEC60512-2-1:2002
电子设备连接器。试验和测量。第2-1部分:电连续性和接触电阻试验。试验2a:接触电阻。毫伏电平法
检测项目:接触电阻-毫伏电压法
检测对象:电子设备用机电元件
IEC60512-2-2:2003
电子设备连接器。试验和测量。第2-2部分:电连续性和接触电阻试验。测试2b:接触电阻-指定测试电流方法
检测项目:接触电阻-指定电流法
检测对象:电子设备用机电元件
IEC 60512-3-1:2002
电子设备连接器。试验和测量。第3-1部分:绝缘试验。试验3a:绝缘电阻
检测项目:绝缘电阻试验
检测对象:电子设备用机电元件
IEC 60512-4-1:2003
电子设备连接器。试验和测量。第4-1部分:电压压力试验。试验4a:耐电压
检测项目:耐电压试验
检测对象:电子设备用机电元件
IEC 60512-5-1:2002
电子设备连接器。试验和测量。第5-1部分:载流容量试验。试验5a:温升
检测项目:温升试验
检测对象:电子设备用机电元件
IEC 60512-5-2:2002
电子设备用连接器测试和测量。第5-2部分:载流容量试验。试验5b:电流温度降额
检测项目:温升-电流温度降额
检测对象:电子设备用机电元件
IEC 60512-9-1:2010
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第9-1部分 耐久测试 试验9a:机械耐久
检测项目:机械耐久
检测对象:电子设备用机电元件
IEC 60512-13-2:2006
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第13-2部分 机械操作试验 试验13b:插拔力
检测项目:插拔力
检测对象:电子设备用机电元件
GB/T 16935.1-2008
低压系统内设备的绝缘配合 第1部分:原理、要求和试验
检测项目:脉冲电压测试
检测对象:电子设备用机电元件
IEC 60664-1:2007
低压系统内设备的绝缘配合 第1部分:原理、要求和试验
检测项目:脉冲电压测试
检测对象:电子设备用机电元件