当前查看：北京航空航天大学可靠性工程研究所元器件质量保证中心
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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“继电器”筛选，展示 18 条相关能力。
按标准归类为 12 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 0702/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 0702/
检测项目：X射线检查、键合强度、扫描电镜检查、剪切强度
检测对象：继电器
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 0702/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 0702/
检测项目：X射线检查、键合强度、扫描电镜检查、剪切强度
检测对象：继电器
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 0701/2.2、0702/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 0701/2.2、0702/
检测项目：外部目检
检测对象：继电器
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 0701/2.2、0702/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 0701/2.2、0702/
检测项目：外部目检
检测对象：继电器
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 0701/2.3、0702/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 0701/2.3、0702/
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：继电器
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 0701/2.4、0702/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 0701/2.4、0702/
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：继电器
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 0701/2.4、0702/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 0701/2.4、0702/
检测项目：密封
检测对象：继电器
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 0701/2.5、0702/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 0701/2.5、0702/
检测项目：密封
检测对象：继电器
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 0701/2.5、0702/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 0701/2.5、0702/
检测项目：内部气体成分分析
检测对象：继电器
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 0701/2.6、0702/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 0701/2.6、0702/
检测项目：内部气体成分分析
检测对象：继电器
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 0701/2.6、0702/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 0701/2.6、0702/
检测项目：内部目检
检测对象：继电器
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 0701/2.7、0702/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 0701/2.7、0702/
检测项目：内部目检
检测对象：继电器