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重庆宏景芯科微电子技术研究院有限公司检测中心

当前查看:重庆宏景芯科微电子技术研究院有限公司检测中心

重庆市

地址:重庆高新区西永街道西园一路28号惠普研发楼01栋1-2层

联系电话:023-65008089

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

当前机构按“电子及电气元件”筛选,展示 8 条相关能力。

按标准归类为 2 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法

电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法

4 项检测项目

检测项目:温度冲击试验、密封、粒子碰撞噪声检测试验、高温寿命试验

检测对象:电子及电气元件

温度冲击试验密封粒子碰撞噪声检测试验高温寿命试验

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

4 项检测项目

检测项目:直流电阻、电容量、品质因数(Q)、绝缘电阻

检测对象:固定电阻器

直流电阻

检测对象:电容器

电容量品质因数(Q)绝缘电阻

机构信息

机构名称

重庆宏景芯科微电子技术研究院有限公司检测中心

所在地区

重庆市

企业地址

重庆高新区西永街道西园一路28号惠普研发楼01栋1-2层

法定代表人

权磊

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