当前查看：大连道氏硅业有限公司实验室
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数据更新时间
2026-05-12
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GB/T 14849.4-2014
工业硅化学分析方法 第4部分：杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
检测项目：铁、铝、钙、磷、钛
检测对象：工业硅