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2026-05-12
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按标准归类为 9 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T 29332-2012
半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT)
检测项目：最大短路安全工作区2、集电极－发射极饱和电压、栅极－发射极阈值电压、集电极截止电流、栅极漏电流、输入电容、输出电容、反向传输电容 等 17 项，点击展开全部
检测对象：绝缘栅双极晶体管
GB/T 2423.1-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A： 低温
检测项目：低温
检测对象：电工电子产品
GB/T 2423.2-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B： 高温
检测项目：高温
检测对象：电工电子产品
GB/T 4937.12-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动
检测项目：扫频振动
检测对象：半导体器件
GB/T 2423.22-2012
环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化
检测项目：温度变化
检测对象：半导体器件
JEDEC JESD22-A122A-2016
半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分：功率循环
检测项目：功率循环
检测对象：半导体器件
GB/T 2423.50-2012
环境试验 第2部分：试验方法 试验Cy：恒定湿热
检测项目：恒定湿热
检测对象：电工电子产品
GB/T 2423.10-2019
环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc: 振动(正弦)
检测项目：振动（正弦）
检测对象：电工电子产品
GB/T 2423.5-2019
环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击
检测项目：冲击
检测对象：电工电子产品