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2026-05-12
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按标准归类为 8 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T 17574-1998
半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇 第2节
检测项目：输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、电源电流I<Sub>CC</Sub>、输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>、输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub> 等 20 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路TTL电路
检测对象：半导体器件集成电路存储器
检测对象：集成电路模拟/数字转换器
检测对象：集成电路数字/模拟转换器
检测对象：半导体集成电路微处理器及外围接口电路
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018
检测项目：电源电流I<Sub>CC</Sub>、功耗P<Sub>W</Sub>、模拟输入电流I<Sub>I</Sub>、增益误差E<Sub>G</Sub>、失调误差E<Sub>O</Sub>、满度误差E<Sub>FS</Sub>、微分非线性DNL、积分非线性INL 等 14 项，点击展开全部
检测对象：集成电路模拟/数字转换器
检测对象：集成电路数字/模拟转换器
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项目：输出电压V<Sub>O</Sub>、输出电流I<Sub>O</Sub>、输出纹波电压V<Sub>RIP</Sub>、电压调整率S<Sub>V</Sub>、电流调整率S<Sub>I</Sub>、交叉调整率、输入电流I<Sub>I</Sub>、效率 等 12 项，点击展开全部
检测对象：混合集成电路DC/DC电源模块
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
检测项目：有效位ENOB、功耗P<Sub>W</Sub>、数字输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、数字输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、数字输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、数字输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、增益误差E<Sub>G</Sub>、失调误差E<Sub>O</Sub>、微分非线性DNL 等 9 项，点击展开全部
检测对象：集成电路模拟/数字转换器
检测对象：集成电路数字/模拟转换器
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996
检测项目：输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、电源电流I<Sub>CC</Sub>、输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>、输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>
检测对象：半导体集成电路TTL电路
半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项目：输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、静态功耗P<Sub>D</Sub>、开环电压增益A<Sub>VO</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器
GB/T 17940-2000
半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 第IV篇 第2节
检测项目：输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、电源电流、开环电压增益A<Sub>VO</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017
检测项目：输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、静态功耗P<Sub>D</Sub>、开环电压增益A<Sub>VO</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器