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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“微电子器件”筛选，展示 20 条相关能力。
按标准归类为 10 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：外部目检和外观及机械检查、外形尺寸（物理尺寸）、温度循环、高温贮存、键合强度、剪切强度
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
检测项目：外部目检和外观及机械检查、外形尺寸（物理尺寸）、温度循环、高温贮存、键合强度、剪切强度
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
检测项目：低温试验
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021
检测项目：低温试验
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2007 条件A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2007 条件A
检测项目：振动
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2007 条件A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2007 条件A
检测项目：振动
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1014.2 条件A1、A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1014.2 条件A1、A
检测项目：细检漏
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1014.2 条件A1、A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1014.2 条件A1、A
检测项目：细检漏
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1014.2 条件C
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1014.2 条件C
检测项目：粗检漏
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1014.3 条件C
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1014.3 条件C
检测项目：粗检漏
检测对象：电子元器件