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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子元器件”筛选，展示 38 条相关能力。
按标准归类为 23 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
AQG 324:2025
机动车电力电子转换器用功率模块的质量检验 9.4 QL-
检测项目：高温储存寿命、低温储存寿命、功率循环、热冲击、高温高湿反偏、高温反向偏压、高温栅极偏压
检测对象：电子元器件
JESD22-A108G:2022
温度、偏置和工作寿命
检测项目：高温工作寿命、低温工作寿命、高温反向偏压、高温栅极偏压
检测对象：电子元器件
JESD22-A101D.01:2021
稳态温湿度偏置寿命试验
检测项目：稳态温湿度偏置寿命、温湿度储存寿命、高温高湿反偏
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.50-2012
环 境 试 验第 2 部分 试验方法 试验Cy：恒定湿热主要用于元件的加速试验
检测项目：稳态温湿度偏置寿命、高温高湿反偏
检测对象：电子元器件
MIL-STD-750-1:2012
半导体器件环境试验方法第1部分:试验方法1000至1999
检测项目：间歇运行寿命、高温反向偏压
检测对象：电子元器件
IEC 60747-9:2019
半导体器件第 9 部分：分立器件 - 绝缘栅双极晶体管 (IGBT)
检测项目：高温反向偏压、高温栅极偏压
检测对象：电子元器件
JESD22-A104F.01:2023
温度循环
检测项目：温度循环
检测对象：电子元器件
JESD22-A102E:2015
加速耐湿性 - 无偏高压
检测项目：加速耐湿性 - 无偏高压
检测对象：电子元器件
JESD22-A110E.01:2021
高加速温湿度应力测试 (HAST)
检测项目：高加速温湿度应力测试 (HAST)
检测对象：电子元器件
JESD22-A118B.01:2021
加速耐湿性 无偏 HAST
检测项目：加速耐湿性 无偏 HAST
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.2-2008
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验 B:高温
检测项目：高温储存寿命
检测对象：电子元器件
JESD22-A103E.01:2021
高温储存寿命
检测项目：高温储存寿命
检测对象：电子元器件
IEC 60749-6:2017
半导体器件 机械和气候试验方法 第 6 部分：高温储存
检测项目：高温储存寿命
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.1-2008
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验 A:低温
检测项目：低温储存寿命
检测对象：电子元器件
JESD22-A119A:2021
低温储存寿命
检测项目：低温储存寿命
检测对象：电子元器件
AEC Q101 Rev-E:2021
基于失效机理应力测试鉴定针对分立半导体汽车应用
检测项目：间歇运行寿命
检测对象：电子元器件
JESD22-A122B:2023
功率循环
检测项目：功率循环
检测对象：电子元器件
IEC 60749-34:2010
半导体器件 机械和气候测试方法 第 34 部分：功率循环
检测项目：功率循环
检测对象：电子元器件
JESD22-A113I:2020
可靠性测试前对非密封表面贴装器件进行预处理
检测项目：预处理
检测对象：电子元器件
JEDEC J-STD-020F:2022
非密封固态表面贴装原件湿度/回流焊敏感度分级 8.3～
检测项目：预处理
检测对象：电子元器件
GB/T 4937.30-2018
半导体器件机械和气候试验方法第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
检测项目：预处理
检测对象：电子元器件
GB/T 4937.20-2018
半导体器件机械和气候试验方法第20部分:塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响
检测项目：预处理
检测对象：电子元器件
IEC 60749-25:2003
半导体器件 机械和气候试验方法 第 25 部分：温度循环
检测项目：热冲击
检测对象：电子元器件