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2026-05-12
当前机构按“电子元器件”筛选，展示 66 条相关能力。
按标准归类为 27 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-
检测项目：玻璃钝化层完整性检查、X射线检查、超声检测、制样镜检、外部目检（包含外观及机械检查）、密封、粒子碰撞噪声检测、内部目检
检测对象：电子元器件
非密封封装电子元器件的声学显微检测 J-STD-035A-
非密封封装电子元器件的声学显微检测 J-STD-035A-
检测项目：超声检测
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
检测项目：内部目检、玻璃钝化层完整性检查、X射线检查、超声检测、外部目检（包含外观及机械检查）、温度循环、密封、粒子碰撞噪声检测
检测对象：电子元器件
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法
检测项目：内部目检、X射线检查、外部目检（包含外观及机械检查）、高温、温度循环、老炼、密封、粒子碰撞噪声检测
检测对象：电子元器件
半导体集成电路失效分析程序和方法 GJB 3233-1998
半导体集成电路失效分析程序和方法 GJB 3233-1998
检测项目：内部目检、X射线检查、外部目检（包含外观及机械检查）、密封、粒子碰撞噪声检测
检测对象：电子元器件
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
检测项目：X射线检查、高温、老炼、稳态湿热、密封
检测对象：电子元器件
多层瓷介电容器及其类似元器件剖面制备及检验方法 GJB 4152A-
多层瓷介电容器及其类似元器件剖面制备及检验方法 GJB 4152A-
检测项目：制样镜检
检测对象：电子元器件
外部目检 JESD22-B101D-
外部目检 JESD22-B101D-
检测项目：外部目检（包含外观及机械检查）
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.1-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温
检测项目：低温
检测对象：电子元器件
低温储存寿命 JESD22-A119A-
低温储存寿命 JESD22-A119A-
检测项目：低温
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.2-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
检测项目：高温
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-
检测项目：高温
检测对象：电子元器件
高温储存试验 JESD22-A103E.01-
高温储存试验 JESD22-A103E.01-
检测项目：高温
检测对象：电子元器件
IEC 60068-2-14 2023
环境试验 第2-14部分试验 试验N温度变化
检测项目：温度循环
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.22-2012
环境试验 第2部分：试验方法N：温度变化
检测项目：温度循环
检测对象：电子元器件
温度循环试验 JESD22-A104F.01-
温度循环试验 JESD22-A104F.01-
检测项目：温度循环
检测对象：电子元器件
功率和温度循环试验 JESD22-A105D-
功率和温度循环试验 JESD22-A105D-
检测项目：温度循环
检测对象：电子元器件
电子及电气元件试验 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验 GJB 360B-2009 方法
检测项目：温度冲击
检测对象：电子元器件
温度偏置工作寿命 JESD22-A108G-
温度偏置工作寿命 JESD22-A108G-
检测项目：老炼
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.3-2016
环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验
检测项目：稳态湿热
检测对象：电子元器件
稳态温湿度偏压寿命试验 JESD22-A101D.01-
稳态温湿度偏压寿命试验 JESD22-A101D.01-
检测项目：稳态湿热
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.4-2008
电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验Db:交变湿热(12h 12h循环)
检测项目：交变湿热试验
检测对象：电子元器件
加速抗湿-无偏压HAST JESD22-A118B.01-
加速抗湿-无偏压HAST JESD22-A118B.01-
检测项目：高加速温湿度
检测对象：电子元器件
高加速温湿度应力试验 JESD22-A110E.01-
高加速温湿度应力试验 JESD22-A110E.01-
检测项目：高加速温湿度
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.40-2013
环境试验 第2部分：试验方法 试验Cx：未饱和高压蒸汽恒定湿热
检测项目：未饱和高压蒸汽恒定湿热
检测对象：电子元器件
加速抗湿-无偏置高压蒸煮 JESD22-A102E-
加速抗湿-无偏置高压蒸煮 JESD22-A102E-
检测项目：高压蒸煮
检测对象：电子元器件
有失效率等级的电磁继电器通用规范 GJB 65C-2021
有失效率等级的电磁继电器通用规范 GJB 65C-2021
检测项目：粒子碰撞噪声检测
检测对象：电子元器件