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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子元器件”筛选，展示 78 条相关能力。
按标准归类为 14 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB 4027A-2006
军用电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目1002-2.4、1003-2.4、1103-
检测项目：粒子碰撞噪声检测试验、密封(氦质谱检漏)、密封（氟油检漏）、外部目检、内部目检、芯片粘接的超声检测
检测对象：电子元器件
GJB 4027B-2021
军用电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目1004-2.5、1103-2.5、1104-
检测项目：粒子碰撞噪声检测试验、密封(氦质谱检漏)、密封（氟油检漏）、外部目检、内部目检、芯片粘接的超声检测
检测对象：电子元器件
GJB 548B-2005
微电路试验方法和程序 方法
检测项目：恒定加速度试验、粒子碰撞噪声检测试验、老炼试验、密封(氦质谱检漏)、密封（氟油检漏）、外部目检、物理尺寸、内部目检 等 11 项，点击展开全部
检测对象：电子元器件
GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：恒定加速度试验、粒子碰撞噪声检测试验、老炼试验、密封(氦质谱检漏)、密封（氟油检漏）、外部目检、物理尺寸、内部目检 等 11 项，点击展开全部
检测对象：电子元器件
GJB 128B-2021
半导体分立器件试验方法 方法
检测项目：恒定加速度试验、粒子碰撞噪声检测试验、老炼试验、密封(氦质谱检漏)、密封（氟油检漏）、外部目检、物理尺寸、内部目检 等 10 项，点击展开全部
检测对象：电子元器件
GJB 360B-2009
电子及电气元件试验方法 方法
检测项目：恒定加速度试验、粒子碰撞噪声检测试验、老炼试验、密封(氦质谱检漏)、密封（氟油检漏）、介质耐电压试验、绝缘电阻测试、直流电阻测试 等 9 项，点击展开全部
检测对象：电子元器件
GJB 128A-1997
半导体分立器件试验方法 方法
检测项目：恒定加速度试验、粒子碰撞噪声检测试验、老炼试验、密封(氦质谱检漏)、密封（氟油检漏）、外部目检、高温贮存、温度冲击试验
检测对象：电子元器件
GJB 65B-1999
有可靠性指标的电磁继电器总规范
检测项目：粒子碰撞噪声检测试验、密封(氦质谱检漏)、密封（氟油检漏）、振动
检测对象：电子元器件
GJB 65C-2021
有失效率等级的电磁继电器通用规范
检测项目：粒子碰撞噪声检测试验、密封(氦质谱检漏)、密封（氟油检漏）、振动
检测对象：电子元器件
GJB 1461A-2017
大功率电磁继电器通用规范 3.10、
检测项目：密封(氦质谱检漏)、密封（氟油检漏）
检测对象：电子元器件
GJB 1042A-2002
电磁继电器通用规范 3.7、
检测项目：密封(氦质谱检漏)、密封（氟油检漏）
检测对象：电子元器件
GJB 1515B-2017
固体继电器通用规范 3.9、
检测项目：密封(氦质谱检漏)、密封（氟油检漏）
检测对象：电子元器件
GJB 128A-97
半导体分立器件试验方法 方法
检测项目：物理尺寸、内部目检
检测对象：电子元器件
GJB 7400-2011
合格制造厂认证用半导体集成电路通用规范
检测项目：芯片粘接的超声检测
检测对象：电子元器件