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2026-05-12
当前展示该机构前 75 条能力；该机构共 75 条能力记录。
按标准归类为 39 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
AEC_Q100_REV_J-2023
基于集成电路应力测试认证的失效机理 A
检测项目：高温存储试验、高温工作寿命试验、恒定湿热试验、温度循环试验、功率温度循环试验、高加速温湿度应力偏压试验、无偏压高加速温湿度应力试验、预处理试验 等 20 项，点击展开全部
检测对象：车载集成电路
AEC_Q101_REV_E-2021
基于失效机制的汽车应用中分立半导体的应力测试认证 A
检测项目：高温高湿反偏、温度循环试验、功率温度循环试验、高加速温湿度应力偏压试验、无偏压高加速温湿度应力试验、预处理试验、高加速蒸煮试验、高温栅偏 等 15 项，点击展开全部
检测对象：分立元器件
GJB548C-2021
外部目检 方法
检测项目：温度循环试验、声学扫描显微镜检查、高温存储试验、外部目检
检测对象：电子元器件
JESD22-A103E.01-2021
高温储存寿命测试
检测项目：高温存储试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A104F.01-2023
温度循环试验
检测项目：温度循环试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A105D-2020
功率温度循环试验
检测项目：功率温度循环试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A110E.01-2021
高加速温湿度应力偏压试验
检测项目：高加速温湿度应力偏压试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A118B.01-2021
无偏压高加速温湿度应力试验
检测项目：无偏压高加速温湿度应力试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A113I-2020
非密封表面贴装器件在可靠性测试之前的预处理方法
检测项目：预处理试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A102E-2015
高加速蒸煮试验
检测项目：高加速蒸煮试验
检测对象：电子元器件
AEC_Q100-008_REV_A-2003
早期寿命失效率
检测项目：早期寿命失效率试验
检测对象：电子元器件
JEDEC J-STD-035-2010
非密封封装电子元件的声学显微镜
检测项目：声学扫描显微镜检查
检测对象：电子元器件
JESD22-B101D-2022
外部目检
检测项目：外部目检
检测对象：电子元器件
JESD22-B110B.01-2019
机械冲击
检测项目：机械冲击
检测对象：电子元器件
JESD22-B103B.01-2016
变频振动
检测项目：变频振动
检测对象：电子元器件
JESD22-B116B-2017
绑线剪切力试验
检测项目：绑线剪切力
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-001-REV-C-1998
线键合剪切测试
检测项目：绑线剪切力
检测对象：电子元器件
AEC-Q101-003-REV-A-2005
线键合剪切测试
检测项目：绑线剪切力
检测对象：电子元器件
JESD22-B120.01-2024
绑线拉力试验
检测项目：绑线拉力
检测对象：电子元器件
MIL-STD-883-2-2019
微电路机械测试方法 第 2 部分 方法
检测项目：绑线拉力
检测对象：电子元器件
JESD22-B117B-2014
锡球剪切力试验
检测项目：锡球剪切力
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.2-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
检测项目：高温存储试验
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-010-REV-A-2003
焊球剪切测试
检测项目：锡球剪切力
检测对象：电子元器件
JESD22-B100B-2003
物理尺寸
检测项目：物理尺寸
检测对象：电子元器件
IPC_J_STD_002E:2017
沾锡试验
检测项目：沾锡试验
检测对象：电子元器件
ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2024
人体模式静电放电敏感度测试（HBM）-元件等级
检测项目：人体模型静电敏感度试验
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-002-REV-E-2013
人体模型静电放电试验
检测项目：人体模型静电敏感度试验
检测对象：电子元器件
AEC-Q101-001-REV-A-2005
人体模型(HBM)静电放电(ESD)测试
检测项目：人体模型静电敏感度试验
检测对象：电子元器件
ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2018
元器件静电放电敏感度测试（CDM）-器件等级
检测项目：带电器件模型静电敏感度试验
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-011-REV-D-2019
带电器件模型（CDM）静电放电试验
检测项目：带电器件模型静电敏感度试验
检测对象：电子元器件
"AEC-Q101-005-REV-A: 2019"
充电设备模型(CDM) 静电放电(ESD)测试
检测项目：带电器件模型静电敏感度试验
检测对象：电子元器件
JESD78E-2016
集成电路闩锁试验
检测项目：闩锁试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A108G-2022
温度、偏压和工作寿命
检测项目：高温工作寿命试验
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-004-REV-D-2012
集成电路闩锁试验
检测项目：闩锁试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A119A-2015
低温储存寿命测试
检测项目：低温存储试验
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.1-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温
检测项目：低温存储试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A101D-2021
稳态温度湿度偏压寿命试验
检测项目：恒定湿热试验
检测对象：电子元器件
GJB360B-2009
电子及电气元件试验方法 方法：
检测项目：恒定湿热试验
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.3-2016
环境试验第2部分:试验方法试验Cab:恒定湿热试验
检测项目：恒定湿热试验
检测对象：电子元器件