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2026-05-12
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按标准归类为 24 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
MIL-STD-750F:2012
半导体测试方法测试标准
检测项目：漏-源击穿电压、漏极反向电流、栅极漏电流、体二极管压降、正向跨导、开关时间测试、体二极管反向恢复时间、体二极管反向恢复电荷 等 30 项，点击展开全部
检测对象：功率金属氧化物场效应管
检测对象：二极管
检测对象：晶体管
检测对象：绝缘栅双极型晶体管
IEC 60747-8:2021
半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管
检测项目：漏极反向电流、栅极漏电流、体二极管压降、正向跨导、开关时间测试、体二极管反向恢复时间、体二极管反向恢复电荷、栅极电荷 等 15 项，点击展开全部
检测对象：功率金属氧化物场效应管
GJB 128B-2021
半导体分立器件试验方法
检测项目：可焊性、耐焊接热、老炼和寿命试验、老炼、开关时间测试、漏-源击穿电压、热阻抗、反向漏电流 等 11 项，点击展开全部
检测对象：电子元器件
检测对象：功率金属氧化物场效应管
检测对象：二极管
检测对象：晶体管
检测对象：绝缘栅双极型晶体管
IEC 60747-2:2016
半导体器件 第2部分：分立器件-整流二极管
检测项目：反向漏电流、反向击穿电压、正向电压、浪涌电流、反向恢复电荷、反向恢复时间、总电容电荷、结电容
检测对象：二极管
AQG 324-2021
汽车电力电子转换单元的功率模块认证
检测项目：绝缘电阻、高温高湿反偏试验、功率循环、电气强度
检测对象：绝缘栅双极型晶体管
检测对象：电子元器件
检测对象：功率金属氧化物场效应管
IEC 60664-1:2020
低压系统内设备的绝缘配合第1部分:原理、要求和试验
检测项目：电气强度、绝缘电阻
检测对象：绝缘栅双极型晶体管
检测对象：功率金属氧化物场效应管
JESD22-A101D.01:2021
稳态温度-湿度偏差寿命试验
检测项目：高温湿热试验、高温高湿反偏试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A108G:2022
温度，反偏和操作寿命试验
检测项目：老炼和寿命试验、老炼
检测对象：电子元器件
IEC 60747-9:2019
半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管
检测项目：漏-源击穿电压、通态电压
检测对象：绝缘栅双极型晶体管
GB/T 4706.1-2024
家用和类似用途电器的安全第1部分：通用要求 方法
检测项目：电气强度
检测对象：绝缘栅双极型晶体管
检测对象：功率金属氧化物场效应管
JESD22-A103E.01:2021
高温存储寿命试验
检测项目：高温存储寿命试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A119A:2021
低温存储寿命试验
检测项目：低温存储寿命试验
检测对象：电子元器件
IEC 60749-5:2023
半导体器件-机械和气候测试方法--第5部分: 稳态温度湿度偏置寿命测试标准
检测项目：高温高湿反偏试验
检测对象：电子元器件
IEC 60749-34:2010
半导体器件–机械和气候测试方法–第34部分:功率循环 第34部分
检测项目：功率循环
检测对象：电子元器件
JEDEC J-STD-002E
元器件引线、端子、焊片、接线柱和导线的可焊性测试
检测项目：可焊性
检测对象：电子元器件
JESD22-A111B-2018
小型表贴器件耐浸焊能力
检测项目：耐焊接热
检测对象：电子元器件
JESD22-A110E.01:2021
高加速温湿度应力试验
检测项目：高加速温湿度应力试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A118B.01:2021
无偏置高加速应力试验
检测项目：高加速温湿度应力试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A102E-2015
加速耐湿性-无偏压高压蒸煮试验
检测项目：高压蒸煮
检测对象：电子元器件
JESD22-A122B:2023
功率循环
检测项目：功率循环
检测对象：电子元器件
IEC 60068-2-2:2007
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温 GB/T 2423.2-
检测项目：高温
检测对象：通用电子产品
IEC 60068-2-1:2007
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-
检测项目：低温
检测对象：通用电子产品
JESD24-11:1996(R2002)
功率MOSFET栅极串联等效电阻测试方法
检测项目：栅极串联等效电阻
检测对象：功率金属氧化物场效应管
JESD51-14:2010
一维传热路径下半导体器件结壳热阻瞬态双界面测试法
检测项目：热阻抗
检测对象：功率金属氧化物场效应管
检测对象：二极管