当前查看：北京航空航天大学杭州创新研究院微电子与信息材料检测中心
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数据更新时间
2026-05-12
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按标准归类为 5 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T 2423.17-2024
环境试验 第2部分：试验方法 试验Ka：盐雾
检测项目：盐雾
检测对象：电子电气产品及其原材料
半导体分立器件失效分析方法和程序 GJB3157-
半导体分立器件失效分析方法和程序 GJB3157-
检测项目：扫描声学显微镜检测
检测对象：电子电气产品及其原材料
扫描电子显微镜分析方法通则 JY/T 0584-2020
扫描电子显微镜分析方法通则 JY/T 0584-2020
检测项目：形貌尺寸测量
检测对象：电子电气产品及其原材料
GB/T 31227-2014
原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法
检测项目：溅射薄膜表面粗糙度测量
检测对象：电子电气产品及其原材料
多晶体X射线衍射方法通则 JY/T 0587-2020
多晶体X射线衍射方法通则 JY/T 0587-2020
检测项目：X射线/物相定性分析
检测对象：电子电气产品及其原材料