当前查看：中国航空工业集团公司西安航空计算技术研究所环境与可靠性实验中心
北京市 · 北京市
地址：北京市朝阳区曙光西里甲5号院19号楼
联系电话：010-58356984
数据更新时间
2026-05-12
当前展示该机构前 100 条能力；该机构共 481 条能力记录。
按标准归类为 34 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T17574-1998
半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇/第2节
检测项目：输入钳位电压、输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流、电源电流、输入电流
检测对象：集成电路（模拟开关）
检测对象：集成电路（采样/保持放大器）
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T 10805-2018
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T 10805-2018
检测项目：共模抑制比、电源电压抑制比、输出高电平电压、输出低电平电压、高电平输出电流、低电平输出电流
检测对象：集成电路（电压比较器）
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法
检测项目：温度循环、粒子碰撞噪声检测试验、老炼（二极管、整流管和稳压管）、老炼（晶体管）、密封性试验、恒定加速度
检测对象：半导体器件
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法
检测项目：温度循环、粒子碰撞噪声检测试验、老炼（二极管、整流管和稳压管）、老炼（晶体管）、密封性试验、恒定加速度
检测对象：半导体器件
有可靠性指标的电磁继电器总规范 GJB 65B-99
有可靠性指标的电磁继电器总规范 GJB 65B-99
检测项目：绕组电阻、接触电阻、吸合电压、释放电压、吸合时间、释放时间
检测对象：继电器
有失效率等级的电磁继电器通用规范 GJB 65C-2021
有失效率等级的电磁继电器通用规范 GJB 65C-2021
检测项目：绕组电阻、接触电阻、吸合电压、释放电压、吸合时间、释放时间
检测对象：继电器
电磁继电器通用规范 GJB 1042A-2002
电磁继电器通用规范 GJB 1042A-2002
检测项目：绕组电阻、接触电阻、吸合电压、释放电压、吸合时间、释放时间
检测对象：继电器
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：温度循环、粒子碰撞噪声检测试验、老炼试验、密封性试验、恒定加速度
检测对象：集成电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
检测项目：温度循环、粒子碰撞噪声检测试验、老炼试验、密封性试验、恒定加速度
检测对象：集成电路
GB/T 14028-2018
半导体集成电路模拟开关测试方法
检测项目：导通电阻、截止态漏极漏电流、截止态源极漏电流、导通态漏电流
检测对象：集成电路（模拟开关）
电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法
检测项目：温度循环、粒子碰撞噪声检测试验、老炼（电容器）、密封性试验
检测对象：电子元件
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
检测项目：温度循环、粒子碰撞噪声检测试验、老炼（电容器）、密封性试验
检测对象：电子元件
电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0101章条号
电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0101章条号
检测项目：外部目检、内部目检、制样镜检
检测对象：金属膜固定电阻器DPA分析
电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0101章条号
电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0101章条号
检测项目：外部目检、内部目检、制样镜检
检测对象：金属膜固定电阻器DPA分析
电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0103章条号
电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0103章条号
检测项目：外部目检、内部目检、制样镜检
检测对象：片式固定电阻器DPA分析
GB/T 14115-1993
半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
检测项目：增益误差、采样-保持失调电压
检测对象：集成电路（采样/保持放大器）
电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0103章条号
电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0103章条号
检测项目：外部目检、制样镜检
检测对象：片式固定电阻器DPA分析
电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0104章条号
电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0104章条号
检测项目：外部目检、制样镜检
检测对象：精密绕线固定电阻器DPA分析
电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0104章条号
电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0104章条号
检测项目：外部目检、制样镜检
检测对象：精密绕线固定电阻器DPA分析
军用设备环境试验方法 低温试验 GJB150.4-
军用设备环境试验方法 低温试验 GJB150.4-
检测项目：低温试验
检测对象：电工电子产品
军用装备实验室环境试验方法 第9部分：湿热试验 GJB150.9A-
军用装备实验室环境试验方法 第9部分：湿热试验 GJB150.9A-
检测项目：湿热试验
检测对象：电工电子产品
GB/T2423.4-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Dd：交变湿热（12h+12h）
检测项目：湿热试验
检测对象：电工电子产品
GB/T2423.3-2016
环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验
检测项目：湿热试验
检测对象：电工电子产品
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法 1010A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法 1010A
检测项目：温度循环
检测对象：集成电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法 2020A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法 2020A
检测项目：粒子碰撞噪声检测试验
检测对象：集成电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法 1015A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法 1015A
检测项目：老炼试验
检测对象：集成电路
机载设备环境条件和试验程序 第六节湿度试验 RTCA/DO160G-2010 6.3.1~
机载设备环境条件和试验程序 第六节湿度试验 RTCA/DO160G-2010 6.3.1~
检测项目：湿热试验
检测对象：电工电子产品
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法 1014A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法 1014A
检测项目：密封性试验
检测对象：集成电路
军用设备环境试验方法 冲击试验 GJB150.18-
军用设备环境试验方法 冲击试验 GJB150.18-
检测项目：冲击试验
检测对象：电工电子产品
军用装备实验室环境试验方法 第18部分：冲击试验 GJB150.18A-
军用装备实验室环境试验方法 第18部分：冲击试验 GJB150.18A-
检测项目：冲击试验
检测对象：电工电子产品
GB/T2423.5-2019
环境试验 第2部分：试验方法 试验Ea 和导则：冲击
检测项目：冲击试验
检测对象：电工电子产品
机载设备环境条件和试验程序 第七节工作冲击和坠撞安全 RTCA/DO160G-2010 7.2，
机载设备环境条件和试验程序 第七节工作冲击和坠撞安全 RTCA/DO160G-2010 7.2，
检测项目：冲击试验
检测对象：电工电子产品
军用设备环境试验方法 振动试验 GJB150.16-
军用设备环境试验方法 振动试验 GJB150.16-
检测项目：振动试验
检测对象：电工电子产品
电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0105章条号
电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0105章条号
检测项目：外部目检
检测对象：功率型线绕固定电阻器DPA分析