当前查看：中国航空工业集团公司西安航空计算技术研究所环境与可靠性实验中心
北京市 · 北京市
地址：北京市朝阳区曙光西里甲5号院19号楼
联系电话：010-58356984
数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“微电子器件”筛选，展示 14 条相关能力。
按标准归类为 6 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：温度循环、粒子碰撞噪声检测试验、老炼试验、密封性试验、恒定加速度
检测对象：集成电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
检测项目：温度循环、粒子碰撞噪声检测试验、老炼试验、密封性试验、恒定加速度
检测对象：集成电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法 1010A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法 1010A
检测项目：温度循环
检测对象：集成电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法 2020A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法 2020A
检测项目：粒子碰撞噪声检测试验
检测对象：集成电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法 1015A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法 1015A
检测项目：老炼试验
检测对象：集成电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法 1014A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法 1014A
检测项目：密封性试验
检测对象：集成电路