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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子器件”筛选，展示 14 条相关能力。
按标准归类为 6 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：温度循环、粒子碰撞噪声检测试验、老炼试验、密封性试验、恒定加速度
检测对象：集成电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
检测项目：温度循环、粒子碰撞噪声检测试验、老炼试验、密封性试验、恒定加速度
检测对象：集成电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法 1010A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法 1010A
检测项目：温度循环
检测对象：集成电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法 2020A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法 2020A
检测项目：粒子碰撞噪声检测试验
检测对象：集成电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法 1015A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法 1015A
检测项目：老炼试验
检测对象：集成电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法 1014A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法 1014A
检测项目：密封性试验
检测对象：集成电路