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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子元器件”筛选，展示 30 条相关能力。
按标准归类为 16 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
AEC-Q100-REV-J:2023
基于失效机理的汽车应用领域集成电路应力测试要求 表2，A2组
检测项目：有偏置的高加速应力试验(HAST)、高压蒸煮试验、无偏置高加速应力试验、温度循环试验、功率温度循环试验、高温贮存寿命试验、高温工作寿命试验、早期寿命失效率试验 等 15 项，点击展开全部
检测对象：电子元器件
JEDEC JESD22-A102E:2015
加速抗湿气性-无偏置高压蒸煮
检测项目：高压蒸煮试验
检测对象：电子元器件
JEDEC JESD22-A118B.01:2021
有偏置的高加速应力试验(HAST)
检测项目：无偏置高加速应力试验
检测对象：电子元器件
JEDEC JESD22-A104F.01:2023
温度循环
检测项目：温度循环试验
检测对象：电子元器件
JEDEC JESD22-A105D:2020
功率温度循环
检测项目：功率温度循环试验
检测对象：电子元器件
JEDEC JESD22-A103E.01:2021
高温贮存寿命
检测项目：高温贮存寿命试验
检测对象：电子元器件
JEDEC JESD22-A108G:2022
温度、偏置和工作寿命
检测项目：高温工作寿命试验
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-008-REV-A:2003
早期寿命失效率
检测项目：早期寿命失效率试验
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-005-REV-D1:2012
非易失性存储器耐久性、数据保持性、工作寿命测试
检测项目：非易失性存储器耐久性、数据保持性、工作寿命测试
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-001-REV-C:1998
绑线剪切测试
检测项目：绑线剪切试验
检测对象：电子元器件
MIL-STD-883-2 w/CHANGE1:2022
微电路的机械测试方法 第 2 部分：方法
检测项目：绑线拉力试验
检测对象：电子元器件
JEDEC J-STD-002E:2017
元器件引线、焊端、焊片、端子和导线的可焊性测试
检测项目：可焊性试验
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-010-REV-A:2003
锡球剪切测试
检测项目：锡球剪切试验
检测对象：电子元器件
JEDEC JESD22-B117B:2014
锡球剪切
检测项目：凸块剪切试验
检测对象：电子元器件
JEDEC JESD22-A101D.01:2021
稳态温湿度偏置寿命测试
检测项目：有偏置的温度湿度试验
检测对象：电子元器件
JEDEC JESD22-A110E.01:2021
高加速温湿度应力测试
检测项目：有偏置的高加速应力试验(HAST)
检测对象：电子元器件