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2026-05-12
当前展示该机构前 100 条能力；该机构共 271 条能力记录。
按标准归类为 29 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
AEC - Q100 - REV-J 2023
基于失效机理的车用集成电路应力试验鉴定规范 表2 第A1项
检测项目：预处理PC、稳态高温高湿偏压寿命THB、偏压高加速应力HAST、高压蒸煮AC、无偏高加速应力UHST、温度循环TC、功率温度循环PTC、高温贮存寿命HTSL 等 21 项，点击展开全部
检测对象：汽车用半导体器件-集成电路
AQG324-2025
机动车电力电子转换单元用功率模块鉴定
检测项目：模块测试MT、高温反偏HTRB、寄生杂散电感Lp、高温栅极偏压HTGB、热阻TR、短路耐量、温度冲击TST、绝缘测试 等 16 项，点击展开全部
检测对象：汽车用功率模块
T/CSAE 226-2021
纯电动车通讯芯片功能环境试验方法
检测项目：接口测试、环回功能、时序、信号一致性、包转发延迟参数、吞吐率参数、总线发送电压参数、总线接收阈值 等 11 项，点击展开全部
检测对象：汽车用半导体器件-集成电路
T/CSAE 225-2021
纯电动乘用车控制芯片功能环境试验方法
检测项目：芯片功耗、软件启动响应时间、软件执行速度、定时器精度、中断响应时间、擦/读/写稳定性、时钟分频/倍频准确性、ADC转换精度 等 10 项，点击展开全部
检测对象：汽车用半导体器件-集成电路
T/ZSA 105-2021
纯电动乘用车 控制与通讯芯片 模拟整车试验方法
检测项目：加速行驶试验、匀速行驶试验、最高车速试验、爬坡试验、强化坏路行驶试验、模拟耐久工况试验、转向试验、制动试验
检测对象：汽车用半导体器件-集成电路
T/ZSA 106-2021
纯电动乘用车 芯片搭载控制器环境试验方法
检测项目：响应时间、功耗、输出信号稳定性、自声明测试、数据采集测试
检测对象：汽车用半导体器件-集成电路
AEC-Q101-Rev-E March 1, 2021
基于失效机理的车用半导体分立器件应力试验鉴定规范 表2 第E2 项
检测项目：参数验证PV、静电放电-人体模型ESD-HBM、静电放电-器件模型ESD-CDM、非钳位感性开关UIS
检测对象：汽车用半导体器件-分立器件
JEDEC JESD22-A108G 2022
温度、偏置和使用寿命
检测项目：低温工作寿命 LTOL、高温工作寿命HTOL、高温栅极偏压HTGB、高温反偏HTRB
检测对象：电子元器件
JEDEC JESD22-A113I:2020
可靠性测试前非密封表面贴装装置的预处理
检测项目：预处理PC
检测对象：电子元器件
JEDEC JESD22-A103E.01-2021
高温贮存寿命试验
检测项目：高温贮存寿命HTSL
检测对象：电子元器件
AEC-Q101-001-Rev-A：2005
人体模型（HBM）静电放电（ESD）测试
检测项目：静电放电-人体模型ESD-HBM
检测对象：汽车用半导体器件-分立器件
AEC-Q101-005-Rev-A：2019
带电设备模型（CDM）静电放电（ESD）测试
检测项目：静电放电-器件模型ESD-CDM
检测对象：汽车用半导体器件-分立器件
AEC-Q101-004 :1996 Section 2
杂项测试方法 第2节
检测项目：非钳位感性开关UIS
检测对象：汽车用半导体器件-分立器件
JEDEC JESD22-A119A-2015
低温贮存寿命
检测项目：低温贮存寿命LTSL
检测对象：电子元器件
MIL-STD-750-1B-2022
半导体器件环境试验方法第1部分:试验方法1000到1999 方法1038、
检测项目：高温反偏HTRB
检测对象：电子元器件
T/CSAE 227－2021
纯电动乘用车控制芯片整车环境舱试验方法
检测项目：整车环境舱试验
检测对象：汽车用半导体器件-集成电路
T/CSAE 228－2021
纯电动乘用车通讯芯片 整车环境舱试验方法
检测项目：整车环境舱试验
检测对象：汽车用半导体器件-集成电路
T/CSAE 229－2021
纯电动乘用车控制芯片整车道路试验方法
检测项目：整车道路试验
检测对象：汽车用半导体器件-集成电路
T/CSAE 230－2021
纯电动乘用车通讯芯片整车道路试验方法
检测项目：整车道路试验
检测对象：汽车用半导体器件-集成电路
T/ZSA 129-2022
纯电动乘用车控制芯片 环境适应性 整车匹配道路试验方法
检测项目：控制芯片环境适应性 整车匹配道路试验
检测对象：汽车用半导体器件-集成电路
MIL-STD-750F-2021
半导体器件的试验方法 方法
检测项目：间歇工作寿命IOL
检测对象：电子元器件
AEC - Q100-008 REV-A:2003
早期寿命失效率
检测项目：早期寿命失效率ELFR
检测对象：汽车用半导体器件-集成电路
AEC-Q100-005 Rev-D1: 2012
非易失性存储器程序/擦除耐久性，数据保留和操作寿命测试
检测项目：NVM耐久性、数据保留和使用寿命EDR
检测对象：汽车用半导体器件-集成电路
AEC-Q100-001 REV-C：1998
引线键合剪切测试
检测项目：引线键合剪切强度WBS
检测对象：汽车用半导体器件-集成电路
AEC-Q006-REV-A：2016
使用铜(Cu)导线互连的部件的合格要求
检测项目：引线键合拉力强度WBP
检测对象：汽车用半导体器件-集成电路
JEDEC JESD22-A117E-2018
电可擦可编程ROM (eeprom)程序/擦除耐久性和数据保持测试
检测项目：NVM读写耐久性NVCE
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-010 REV-A：2003
锡球剪切测试
检测项目：焊球剪切强度SBS
检测对象：汽车用半导体器件-集成电路
AEC - Q100-002 REV-E：2013
人体模型静电放电试验
检测项目：静电放电-人体模型ESD-HBM
检测对象：汽车用半导体器件-集成电路
AEC - Q100-011 Rev-D2019
带电器件模型静电放电试验
检测项目：静电放电-器件模型ESD-CDM
检测对象：汽车用半导体器件-集成电路