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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“IEC 62132”筛选，展示 2 条相关能力。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
IEC 62132-2:2010
集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度的测量 TEM小室和宽带TEM小室法
检测项目：集成电路-辐射抗扰度RI-TEM小室法
检测对象：电子元器件
IEC 62132-4:2006
集成电路 150kHz至1GHz 电磁抗扰度测量 第4部分:直接射频功率注入法
检测项目：集成电路-电磁抗扰度CI-射频功率直接注入法DPI
检测对象：电子元器件