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2026-05-12
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半导体光电耦合器测试方法 SJ/T2215-2015
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T2215-2015
检测项目：正向电压、正向电流、反向击穿电压、反向电流、集电极-发射极击穿电压、集电极-发射极饱和电压、集电极-发射极截止电流、电流传输比 等 12 项，点击展开全部
检测对象：半导体光电耦合器
GB/T4587-2023
半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管
检测项目：集电极-基极击穿电压、发射极-基极击穿电压、集电极-发射极击穿电压、集电极-基极截止电流、集电极-发射极截止电流、发射极-基极截止电流、正向电流传输比、集电极-发射极饱和电压 等 10 项，点击展开全部
检测对象：双极型晶体管
GB/T4586-1994
半导体器件 第8部分 场效应晶体管 第Ⅳ章 测试方法
检测项目：栅极截止电流或栅极泄露电流、漏极截止电流、栅-源阈值电压、栅-源截止电压、通态漏-源电阻、漏极电流、小信号短路正向跨导、漏源通态电压
检测对象：场效应晶体管
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法
检测项目：电阻值、介质耐压、总阻值、终端电阻、电容量、品质因数、绝缘电阻
检测对象：电阻器
检测对象：电容器
检测对象：电位器
GB/T15291-2015
半导体器件 第6部分：晶闸管
检测项目：门极触发电流、门极触发电压、通态电压、断态电流、反向峰值电流、维持电流、擎住电流
检测对象：晶闸管
GB/T6571-1995
半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 第Ⅳ章 第3节
检测项目：正向电压、反向电流、工作电压、微分电阻、调整电流、极限电压
检测对象：开关二极管
检测对象：调整二极管
GB/T 29332-2012
半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘双极晶体管(IGBT)
检测项目：栅极漏电流、集电极截止电流、栅极-发射极阈值电压、集电极-发射极饱和电压、集电极-发射极电压
检测对象：绝缘栅双极晶体管（IGBT）
有和无可靠性指标的模制射频固定电感器通用规范 GJB 675A-2002
有和无可靠性指标的模制射频固定电感器通用规范 GJB 675A-2002
检测项目：电感量、Q值、直流电阻
检测对象：电感器
GB/T4023-2015
半导体分立器件第2部分：整流二极管
检测项目：正向电压、反向电流、击穿电压
检测对象：整流二极管
固体电解质钽固定电容器通用规范 GJB 63C-2015
固体电解质钽固定电容器通用规范 GJB 63C-2015
检测项目：电容量、损耗角正切、漏电流
检测对象：钽电容器
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
检测项目：直流电阻
检测对象：电感器