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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子元器件”筛选，展示 1 条相关能力。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB 4027B-2021
军用电子元器件破坏性物理分析方法 方法1103 2.6.1、1104
检测项目：剖切
检测对象：半导体器件