当前查看:杭州赛迪君信检测有限公司
浙江省 · 杭州市
地址:浙江省杭州市萧山区闻堰街道时代大道4887号湘湖科创园9号楼1楼102室
联系电话:18668227825
数据更新时间
2026-05-12
当前展示该机构前 100 条能力;该机构共 137 条能力记录。
按标准归类为 34 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
GJB 548C-2021
微电子试验方法和程序 方法
检测项目:温度变化、盐雾试验、振动试验、外部目检、物理尺寸、X射线检查、粒子碰撞噪声检测、密封(粗检漏,细检漏) 等 13 项,点击展开全部
检测对象:电工电子产品
检测对象:电子元器件
GJB 128B-2021
半导体分立器件试验方法 方法
检测项目:温度变化、盐雾试验、振动试验、冲击试验、物理尺寸、X射线检查、粒子碰撞噪声检测、密封(粗检漏,细检漏) 等 13 项,点击展开全部
检测对象:电工电子产品
检测对象:电子元器件
SJ/T 10805-2018
半导体集成电路 电压比较器测试方法
检测项目:输入失调电压、输入偏置电流、输入失调电流、静态功耗、开环电压增益、输出高电平电压、输出低电平电压、高电平输出电流 等 11 项,点击展开全部
检测对象:电压比较器
SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法
检测项目:电流传输比、正向电压(输入二极管)、正向电流(二极管)、反向电流(二极管)、反向击穿电压(二极管)、集电极-发射极击穿电压、集电极-发射极饱和电压、输出截止电流
检测对象:光耦
GJB 9147-2017
半导体集成电路 运算放大器测试方法
检测项目:输入失调电压、输入偏置电流、输入失调电流、静态功耗、开环电压增益、共模抑制比、电源电压抑制比
检测对象:运算放大器
GB/T 4377-2018
半导体集成电路 电压调整器测试方法
检测项目:电压调整率、电流调整率、电源纹波抑制比、短路电流、最小输入输出电压差、输出电压和输出电压偏差
检测对象:电压调整器
GB/T 17574-1998
半导体器件 集成电路第2部分:数字集成电路 第IV章 第2节 测试方法
检测项目:输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流、输入钳位电压、输出高阻态电流
检测对象:数字集成电路
GJB 360B-2009
电子及电气元件试验方法 方法
检测项目:温度变化、盐雾试验、振动试验、X射线检查、粒子碰撞噪声检测、密封(粗检漏,细检漏)
检测对象:电工电子产品
检测对象:电子元器件
AQG 324-2021
机动车动力电子转换器件功率模块的鉴定
检测项目:高温试验、温度变化、振动试验、低温试验、冲击试验
检测对象:电工电子产品
GB/T 2423.1-2008
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温
检测项目:低温试验
检测对象:电工电子产品
GB/T 2423.22-2012
环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化
检测项目:温度变化
检测对象:电工电子产品
IEC 60749-25-2003
半导体器件 机械和气候试验方法第二十五部分:温度循环
检测项目:温度变化
检测对象:电工电子产品
JESD22-A104F.01-2023
温度循环
检测项目:温度变化
检测对象:电工电子产品
GJB 150.5A-2009
军用装备实验室环境试验方法第5部分:温度冲击试验
检测项目:温度变化
检测对象:电工电子产品
GB/T 2423.3-2016
环境试验 第2部分:试验方法试验 Cab:恒定湿热试验
检测项目:无偏压高加速应力
检测对象:电工电子产品
JESD22-A119:2015
低温贮存寿命
检测项目:低温试验
检测对象:电工电子产品
JESD22-A118B.01-2021
加速耐湿性无偏压高加速应力
检测项目:无偏压高加速应力
检测对象:电工电子产品
JESD22-A102E-2021
高压蒸煮
检测项目:无偏压高加速应力
检测对象:电工电子产品
GB/T 2423.17-2024
环境试验 第2部分:试验方法 试验Ka:盐雾
检测项目:盐雾试验
检测对象:电工电子产品
GB/T 10125-2021
人造气氛腐蚀试验 盐雾试验
检测项目:盐雾试验
检测对象:电工电子产品
GJB 150.11A-2009
军用装备实验室环境试验方法第11部分:盐雾试验
检测项目:盐雾试验
检测对象:电工电子产品
GB T 2423.16-2022
环境试验 第2部分:试验方法 试验J和导则:长霉
检测项目:霉菌试验
检测对象:电工电子产品
GJB 150.10A-2009
军用装备实验室环境试验方法第10部分:霉菌试验
检测项目:霉菌试验
检测对象:电工电子产品
GJB 150.4A-2009
军用装备实验室环境试验方法第4部分:低温试验
检测项目:低温试验
检测对象:电工电子产品
GB/T 2423.10-2019
环境试验 第2部分:试验方法 试验 Fc:振动(正弦)
检测项目:振动试验
检测对象:电工电子产品
IEC 60068-2-6-2007
环境试验 第2部分:试验方法 试验 Fc:振动(正弦)
检测项目:振动试验
检测对象:电工电子产品
GJB 150.16A-2009
军用装备实验室环境试验方法第16部分:振动试验
检测项目:振动试验
检测对象:电工电子产品
GB/T 2423.5-2019
环境试验 第2部分:试验方法试验 Ea和导则:冲击
检测项目:冲击试验
检测对象:电工电子产品
GJB 150.18A-2009
军用装备实验室环境试验方法第18部分:冲击试验
检测项目:冲击试验
检测对象:电工电子产品
GB/T 2423.35-2019
环境试验 第2部分:试验和导则 气候(温度、湿度)和动力学(振动、冲击)综合试验
检测项目:气候(温度、湿度)和动力学(振动、冲击)综合试验
检测对象:电工电子产品
IEC 60068-2-53-2010
环境试验 第2-53部分:试验和导则(温度、湿度)和动力学(振动、冲击)综合试验
检测项目:气候(温度、湿度)和动力学(振动、冲击)综合试验
检测对象:电工电子产品
GB/T 2423.2-2008
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
检测项目:高温试验
检测对象:电工电子产品
IEC 60749-6-2017
半导体器件 机械和气候试验方法.第6部分:高温贮存
检测项目:高温试验
检测对象:电工电子产品
JESD22-A108G:2022
温度、偏压、工作寿命
检测项目:稳态工作寿命
检测对象:电子元器件