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杭州赛迪君信检测有限公司

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地址:浙江省杭州市萧山区闻堰街道时代大道4887号湘湖科创园9号楼1楼102室

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数据更新时间

2026-05-12

能力范围

当前展示该机构前 100 条能力;该机构共 137 条能力记录。

按标准归类为 34 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

GJB 548C-2021

微电子试验方法和程序 方法

13 项检测项目

检测项目:温度变化、盐雾试验、振动试验、外部目检、物理尺寸、X射线检查、粒子碰撞噪声检测、密封(粗检漏,细检漏) 等 13 项,点击展开全部

检测对象:电工电子产品

温度变化盐雾试验振动试验

检测对象:电子元器件

外部目检物理尺寸X射线检查粒子碰撞噪声检测密封(粗检漏,细检漏)内部目检键合强度芯片剪切强度老炼稳态工作寿命

GJB 128B-2021

半导体分立器件试验方法 方法

13 项检测项目

检测项目:温度变化、盐雾试验、振动试验、冲击试验、物理尺寸、X射线检查、粒子碰撞噪声检测、密封(粗检漏,细检漏) 等 13 项,点击展开全部

检测对象:电工电子产品

温度变化盐雾试验振动试验冲击试验

检测对象:电子元器件

物理尺寸X射线检查粒子碰撞噪声检测密封(粗检漏,细检漏)键合强度芯片剪切强度老炼稳态工作寿命间歇工作寿命

SJ/T 10805-2018

半导体集成电路 电压比较器测试方法

11 项检测项目

检测项目:输入失调电压、输入偏置电流、输入失调电流、静态功耗、开环电压增益、输出高电平电压、输出低电平电压、高电平输出电流 等 11 项,点击展开全部

检测对象:电压比较器

输入失调电压输入偏置电流输入失调电流静态功耗开环电压增益输出高电平电压输出低电平电压高电平输出电流低电平输出电流共模抑制比电源电压抑制比

SJ/T 2215-2015

半导体光电耦合器测试方法

8 项检测项目

检测项目:电流传输比、正向电压(输入二极管)、正向电流(二极管)、反向电流(二极管)、反向击穿电压(二极管)、集电极-发射极击穿电压、集电极-发射极饱和电压、输出截止电流

检测对象:光耦

电流传输比正向电压(输入二极管)正向电流(二极管)反向电流(二极管)反向击穿电压(二极管)集电极-发射极击穿电压集电极-发射极饱和电压输出截止电流

GJB 9147-2017

半导体集成电路 运算放大器测试方法

7 项检测项目

检测项目:输入失调电压、输入偏置电流、输入失调电流、静态功耗、开环电压增益、共模抑制比、电源电压抑制比

检测对象:运算放大器

输入失调电压输入偏置电流输入失调电流静态功耗开环电压增益共模抑制比电源电压抑制比

GB/T 4377-2018

半导体集成电路 电压调整器测试方法

6 项检测项目

检测项目:电压调整率、电流调整率、电源纹波抑制比、短路电流、最小输入输出电压差、输出电压和输出电压偏差

检测对象:电压调整器

电压调整率电流调整率电源纹波抑制比短路电流最小输入输出电压差输出电压和输出电压偏差

GB/T 17574-1998

半导体器件 集成电路第2部分:数字集成电路 第IV章 第2节 测试方法

6 项检测项目

检测项目:输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流、输入钳位电压、输出高阻态电流

检测对象:数字集成电路

输出高电平电压输出低电平电压输入高电平电流输入低电平电流输入钳位电压输出高阻态电流

GJB 360B-2009

电子及电气元件试验方法 方法

6 项检测项目

检测项目:温度变化、盐雾试验、振动试验、X射线检查、粒子碰撞噪声检测、密封(粗检漏,细检漏)

检测对象:电工电子产品

温度变化盐雾试验振动试验

检测对象:电子元器件

X射线检查粒子碰撞噪声检测密封(粗检漏,细检漏)

AQG 324-2021

机动车动力电子转换器件功率模块的鉴定

5 项检测项目

检测项目:高温试验、温度变化、振动试验、低温试验、冲击试验

检测对象:电工电子产品

高温试验温度变化振动试验低温试验冲击试验

GB/T 2423.1-2008

电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温

1 项检测项目

检测项目:低温试验

检测对象:电工电子产品

低温试验

GB/T 2423.22-2012

环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化

1 项检测项目

检测项目:温度变化

检测对象:电工电子产品

温度变化

IEC 60749-25-2003

半导体器件 机械和气候试验方法第二十五部分:温度循环

1 项检测项目

检测项目:温度变化

检测对象:电工电子产品

温度变化

JESD22-A104F.01-2023

温度循环

1 项检测项目

检测项目:温度变化

检测对象:电工电子产品

温度变化

GJB 150.5A-2009

军用装备实验室环境试验方法第5部分:温度冲击试验

1 项检测项目

检测项目:温度变化

检测对象:电工电子产品

温度变化

GB/T 2423.3-2016

环境试验 第2部分:试验方法试验 Cab:恒定湿热试验

1 项检测项目

检测项目:无偏压高加速应力

检测对象:电工电子产品

无偏压高加速应力

JESD22-A119:2015

低温贮存寿命

1 项检测项目

检测项目:低温试验

检测对象:电工电子产品

低温试验

JESD22-A118B.01-2021

加速耐湿性无偏压高加速应力

1 项检测项目

检测项目:无偏压高加速应力

检测对象:电工电子产品

无偏压高加速应力

JESD22-A102E-2021

高压蒸煮

1 项检测项目

检测项目:无偏压高加速应力

检测对象:电工电子产品

无偏压高加速应力

GB/T 2423.17-2024

环境试验 第2部分:试验方法 试验Ka:盐雾

1 项检测项目

检测项目:盐雾试验

检测对象:电工电子产品

盐雾试验

GB/T 10125-2021

人造气氛腐蚀试验 盐雾试验

1 项检测项目

检测项目:盐雾试验

检测对象:电工电子产品

盐雾试验

GJB 150.11A-2009

军用装备实验室环境试验方法第11部分:盐雾试验

1 项检测项目

检测项目:盐雾试验

检测对象:电工电子产品

盐雾试验

GB T 2423.16-2022

环境试验 第2部分:试验方法 试验J和导则:长霉

1 项检测项目

检测项目:霉菌试验

检测对象:电工电子产品

霉菌试验

GJB 150.10A-2009

军用装备实验室环境试验方法第10部分:霉菌试验

1 项检测项目

检测项目:霉菌试验

检测对象:电工电子产品

霉菌试验

GJB 150.4A-2009

军用装备实验室环境试验方法第4部分:低温试验

1 项检测项目

检测项目:低温试验

检测对象:电工电子产品

低温试验

GB/T 2423.10-2019

环境试验 第2部分:试验方法 试验 Fc:振动(正弦)

1 项检测项目

检测项目:振动试验

检测对象:电工电子产品

振动试验

IEC 60068-2-6-2007

环境试验 第2部分:试验方法 试验 Fc:振动(正弦)

1 项检测项目

检测项目:振动试验

检测对象:电工电子产品

振动试验

GJB 150.16A-2009

军用装备实验室环境试验方法第16部分:振动试验

1 项检测项目

检测项目:振动试验

检测对象:电工电子产品

振动试验

GB/T 2423.5-2019

环境试验 第2部分:试验方法试验 Ea和导则:冲击

1 项检测项目

检测项目:冲击试验

检测对象:电工电子产品

冲击试验

GJB 150.18A-2009

军用装备实验室环境试验方法第18部分:冲击试验

1 项检测项目

检测项目:冲击试验

检测对象:电工电子产品

冲击试验

GB/T 2423.35-2019

环境试验 第2部分:试验和导则 气候(温度、湿度)和动力学(振动、冲击)综合试验

1 项检测项目

检测项目:气候(温度、湿度)和动力学(振动、冲击)综合试验

检测对象:电工电子产品

气候(温度、湿度)和动力学(振动、冲击)综合试验

IEC 60068-2-53-2010

环境试验 第2-53部分:试验和导则(温度、湿度)和动力学(振动、冲击)综合试验

1 项检测项目

检测项目:气候(温度、湿度)和动力学(振动、冲击)综合试验

检测对象:电工电子产品

气候(温度、湿度)和动力学(振动、冲击)综合试验

GB/T 2423.2-2008

电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温

1 项检测项目

检测项目:高温试验

检测对象:电工电子产品

高温试验

IEC 60749-6-2017

半导体器件 机械和气候试验方法.第6部分:高温贮存

1 项检测项目

检测项目:高温试验

检测对象:电工电子产品

高温试验

JESD22-A108G:2022

温度、偏压、工作寿命

1 项检测项目

检测项目:稳态工作寿命

检测对象:电子元器件

稳态工作寿命

机构信息

机构名称

杭州赛迪君信检测有限公司

所在地区

浙江省 · 杭州市

企业地址

浙江省杭州市萧山区闻堰街道时代大道4887号湘湖科创园9号楼1楼102室

法定代表人

张昭昭

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