当前查看：航天科工防御技术研究试验中心
其他地区
数据更新时间
2026-05-12
当前展示该机构前 100 条能力；该机构共 1684 条能力记录。
按标准归类为 22 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T17574-1998
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 IV.
检测项目：静态条件下的电源电流I<Sub>CCL</Sub>、传输时间t<Sub>PLH</Sub>、传输时间t<Sub>PHL</Sub>、输出允许时间t<Sub>PZH</Sub>、输出允许时间t<SUB>PZL</SUB>、输出禁止时间t<Sub>PHZ</Sub>、输出禁止时间t<Sub>PLZ</Sub>、输入高电平电压V<Sub>IH</Sub> 等 9 项，点击展开全部
检测对象：TTL集成电路
GJB 548B-2005
半导体分立器件试验方法 方法
检测项目：密封、内部目检、键合强度、扫描电子显微镜（SEM）检查、剪切强度、内部水汽含量、外部目检、X射线检查 等 9 项，点击展开全部
检测对象：密封半导体集成电路
检测对象：混合集成电路
检测对象：塑封半导体集成电路
GJB 548C-2021
半导体分立器件试验方法 方法
检测项目：密封、内部目检、键合强度、扫描电子显微镜（SEM）检查、剪切强度、内部水汽含量、外部目检、X射线检查 等 9 项，点击展开全部
检测对象：密封半导体集成电路
检测对象：混合集成电路
检测对象：塑封半导体集成电路
GJB4027A-2006
军用电子元器件破坏性物理分析方法 1101/
检测项目：内部目检、键合强度、扫描电子显微镜（SEM）检查、剪切强度、外部目检、X射线检查、粒子碰撞噪声检测（PIND）、密封 等 9 项，点击展开全部
检测对象：密封半导体集成电路
检测对象：混合集成电路
检测对象：塑封半导体集成电路
GJB4027B-2021
军用电子元器件破坏性物理分析方法 1101/
检测项目：内部目检、键合强度、扫描电子显微镜（SEM）检查、剪切强度、外部目检、X射线检查、粒子碰撞噪声检测（PIND）、密封 等 9 项，点击展开全部
检测对象：密封半导体集成电路
检测对象：混合集成电路
检测对象：塑封半导体集成电路
MIL-STD-883-2-2019
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：剪切强度、内部水汽含量
检测对象：密封半导体集成电路
GB/T228.1-2021
金属材料 拉伸试验 第1部分 室温试验方法
检测项目：室温拉伸
检测对象：金属和金属制品
GB/T3098.1-2010
紧固件机械性能 螺栓、螺钉和螺柱
检测项目：硬度
检测对象：紧固件
MIL-STD-883-2--2019
微电子器件实验方法和程序 MIL-STD-883-2-2019 方法
检测项目：键合强度
检测对象：密封半导体集成电路
GB/T 4937-1995
半导体器件机械和气候试验方法 第IV章
检测项目：易燃性
检测对象：塑封半导体集成电路
GB/T 4937.4-2012
半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）
检测项目：HAST
检测对象：塑封半导体集成电路
JEDEC JESD22- A110E-2015
高加速温湿度应力试验
检测项目：HAST
检测对象：塑封半导体集成电路
SJ/T 10745-96
半导体集成电路机械和气候试验方法 方法
检测项目：高压蒸煮
检测对象：塑封半导体集成电路
JESD22-A102E-2015
非偏置加压抗潮湿高压试验
检测项目：高压蒸煮
检测对象：塑封半导体集成电路
JESD22-A118B：2015
加速水汽抵抗性-无偏压HAST
检测项目：无偏压高加速应力试验
检测对象：塑封半导体集成电路
JESD22-A105D：2011
功率和温度循环
检测项目：通电温度循环
检测对象：塑封半导体集成电路
AEC-Q100-008-REV-A：2003
早期生命失效率
检测项目：早期失效率试验
检测对象：塑封半导体集成电路
AEC-Q100-005D1：2012
非易失性存储器编程/擦除耐久性、数据保留和运行寿命测试 AEC-Q100-005D1-：
检测项目：NVM非易失性存储器验证(EDR)
检测对象：塑封半导体集成电路
AEC-Q100-001 REV-C：1998
引线键合剪切试验
检测项目：剪切力试验
检测对象：塑封半导体集成电路
AEC-Q100-010 REV-A：2003
锡球剪切试验
检测项目：剪切力试验
检测对象：塑封半导体集成电路
AEC-Q101-003 REV-A：2005
引线键合剪切试验
检测项目：剪切力试验
检测对象：塑封半导体集成电路
AEC-Q100-002 REV-E：2013
静电放电人体模型（HBM）
检测项目：人体模型静电放电试验
检测对象：塑封半导体集成电路