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航天科工防御技术研究试验中心

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数据更新时间

2026-05-12

能力范围

当前机构按“微电子器件”筛选,展示 148 条相关能力。

按标准归类为 6 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

GJB 548C-2021

微电子器件试验方法和程序

31 项检测项目

检测项目:密封、内部目检、键合强度、扫描电子显微镜(SEM)检查、内部水汽含量、外部目检、X射线检查、粒子碰撞噪声检测(PIND) 等 31 项,点击展开全部

检测对象:密封半导体集成电路

密封内部目检键合强度扫描电子显微镜(SEM)检查内部水汽含量外部目检X射线检查粒子碰撞噪声检测(PIND)

检测对象:混合集成电路

外部目检X射线检查粒子碰撞噪声检测(PIND)密封内部目检键合强度扫描电子显微镜(SEM)检查剪切强度

检测对象:塑封半导体集成电路

外部目检X射线检查内部目检键合强度扫描电子显微镜(SEM)检查人体模型静电放电试验引脚完整性

检测对象:晶体振荡器

外部目检X射线检查密封内部目检键合强度扫描电子显微镜(SEM)检查剪切强度

检测对象:电工电子产品、设备、电子及电气元件

振动试验

检测对象:通用元器件

外部目检恒定加速度颗粒碰撞噪声检测细检漏粗检漏温度循环高温贮存

检测对象:电工电子产品、电子设备、电子及电气元件

冲击试验振动试验

检测对象:电工电子产品、电子设备、电子元器件

盐雾试验

检测对象:半导体集成电路

耐湿外部目检稳定性烘焙温度循环老炼试验恒定加速度粒子碰撞噪声检测(PIND)细检漏粗检漏X射线检查粒子碰撞噪声检测试验可焊性热冲击

检测对象:电工电子产品、特种设备及电子元器件

高温试验交变湿热试验冲击试验振动试验温度改变试验低气压试验联合试验盐雾试验

GJB 548B-2005

微电子器件试验方法和程序

30 项检测项目

检测项目:密封、内部目检、键合强度、扫描电子显微镜(SEM)检查、内部水汽含量、外部目检、X射线检查、粒子碰撞噪声检测(PIND) 等 30 项,点击展开全部

检测对象:密封半导体集成电路

密封内部目检键合强度扫描电子显微镜(SEM)检查内部水汽含量外部目检X射线检查粒子碰撞噪声检测(PIND)

检测对象:混合集成电路

外部目检X射线检查粒子碰撞噪声检测(PIND)密封内部目检键合强度扫描电子显微镜(SEM)检查剪切强度

检测对象:塑封半导体集成电路

X射线检查内部目检键合强度扫描电子显微镜(SEM)检查人体模型静电放电试验引脚完整性

检测对象:晶体振荡器

外部目检X射线检查密封内部目检键合强度扫描电子显微镜(SEM)检查剪切强度

检测对象:电工电子产品、设备、电子及电气元件

振动试验

检测对象:通用元器件

外部目检温度循环高温贮存

检测对象:电工电子产品、电子设备、电子及电气元件

冲击试验振动试验

检测对象:电工电子产品、电子设备、电子元器件

盐雾试验

检测对象:半导体集成电路

耐湿外部目检稳定性烘焙温度循环老炼试验恒定加速度粒子碰撞噪声检测(PIND)细检漏粗检漏X射线检查粒子碰撞噪声检测试验可焊性热冲击

检测对象:电工电子产品、特种设备及电子元器件

高温试验交变湿热试验振动试验温度改变试验低气压试验联合试验盐雾试验

GJB548A-96

微电子器件试验方法和程序 方法 1004A耐湿

6 项检测项目

检测项目:高温试验、交变湿热试验、温度改变试验、低气压试验、联合试验、盐雾试验

检测对象:电工电子产品、特种设备及电子元器件

高温试验交变湿热试验温度改变试验低气压试验联合试验盐雾试验

MIL-STD-883-2-2019

微电子器件试验方法和程序 方法

4 项检测项目

检测项目:剪切强度、内部水汽含量、引线键合拉力、封盖扭矩

检测对象:密封半导体集成电路

剪切强度内部水汽含量

检测对象:塑封半导体集成电路

引线键合拉力

检测对象:半导体集成电路

封盖扭矩

MIL-STD-883-2--2019

微电子器件实验方法和程序 MIL-STD-883-2-2019 方法

1 项检测项目

检测项目:键合强度

检测对象:密封半导体集成电路

键合强度

GJB548A-1996

微电子器件试验方法和程序 方法2007扫频振动

1 项检测项目

检测项目:振动试验

检测对象:电工电子产品、特种设备及电子元器件

振动试验

机构信息

机构名称

航天科工防御技术研究试验中心

所在地区

其他地区

企业地址

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