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2026-05-12
当前机构按“电源”筛选，展示 71 条相关能力。
按标准归类为 11 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T 6346.14-2023
电子设备用固定电容器第14部分：分规范 抑制电源电磁干扰用电容器
检测项目：电容值、绝缘电阻、介质耐压、外观及尺寸、损耗角正切
检测对象：电容器
检测对象：通用元器件
GB/T 6346.14-2015
电子设备用固定电容器 第14部分：分规范 抑制电源电磁干扰用固定电容器 GB/T 6346.14-2023
检测项目：损耗角正切
检测对象：电容器
GB/T17574-1998
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 IV.
检测项目：静态条件下的电源电流I<Sub>CCL</Sub>、静态条件下的电源电流I<SUB>CCSB</SUB>、动态条件下的总电源电流I<SUB>CC</SUB>、动态条件下的总电源电流I<Sub>CC</Sub>、静态条件下的电源电流I<SUB>DD</SUB>、静态条件下的电源电流I<Sub>SB</Sub>、静态条件下的电源电流I<Sub>CCH</Sub>
检测对象：TTL集成电路
检测对象：复杂可编程逻辑器件
检测对象：现场可编程门阵列
检测对象：数字信号处理器
检测对象：模拟开关
检测对象：MOS随机存储器
检测对象：CMOS集成电路
GB/T 35007-2018
半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法
检测项目：电源关断输入漏电流I<Sub>IN-OFF</Sub>、电源关断输出漏电流I<Sub>O-OFF</Sub>、静态电源电流I<Sub>DD</Sub>、关断电源电流I<Sub>DDZ</Sub>、动态电源电流I<Sub>DDA</Sub>
检测对象：差分信号电路
SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法
检测项目：高电平电源电流I<Sub>CCH</Sub>、低电平电源电流I<Sub>CCL</Sub>
检测对象：半导体光电耦合器
GB/T 17940-2000
半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 IV.
检测项目：电源电压抑制比k<Sub>SVR</Sub>、电源电流I<Sub>I</Sub>
检测对象：运算放大器
GB/T 35006-2018
半导体集成电路电平转换器测试方法
检测项目：输出对电源短路电流I<Sub>OSH</Sub>、电源电流I<Sub>CC</Sub>
检测对象：电平转换器
GJB 9388-2018
集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法
检测项目：直流电源抑制比PSRR<Sub>DC</Sub>、电源电流I<Sub>CC</Sub>
检测对象：A/D和D/A转换器
SJ/T 10737-96
半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理
检测项目：电源电流I<Sub>EEQ</Sub>
检测对象：发射极耦合逻辑（ECL）电路
SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
检测项目：电源电压灵敏度K<Sub>SVS</Sub>
检测对象：A/D和D/A转换器
GB/T 4377—2018
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目：电源纹波抑制比S<Sub>rip</Sub>
检测对象：电压调整器