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数据更新时间
2026-05-12
当前展示该机构前 11 条能力；该机构共 11 条能力记录。
按标准归类为 10 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
JESD22-A101D.01:2021
稳态温度湿度偏压寿命试验
检测项目：稳态温度湿度偏压寿命试验 (THB)、稳态温度湿度无偏压寿命试验 (TH)
检测对象：半导体器件
JESD22-A108G:2022
温度偏压寿命试验
检测项目：高温偏压寿命试验 (HTOL)
检测对象：半导体器件
AEC-Q100-008 REV-A July 18,2023
早期失效率试验
检测项目：早期寿命失效率试验 (ELFR)
检测对象：半导体器件
JESD22-A110E.01:2021
高加速温湿度应力试验
检测项目：高加速应力试验 (HAST)
检测对象：半导体器件
JEDECJESD22-A113I:2020
预处理 JESD22-A113I:
检测项目：预处理 (Pre-condition)
检测对象：半导体器件
JESD22-A102E:2015
加速防潮性能无偏压高压蒸煮试验 (AC)
检测项目：加速防潮性能无偏压高压蒸煮试验 (AC)
检测对象：半导体器件
JESD22-A118B.01:2021
无偏压高加速温湿度试验
检测项目：无偏压高加速应力试验 (UHAST)
检测对象：半导体器件
JESD22-A104F.01:2023
温度循环试验
检测项目：温度循环试验 (TC)
检测对象：半导体器件
JESD22-A105D:2020
功率温度循环试验
检测项目：功率温度循环试验 (PTC)
检测对象：半导体器件
JESD22-A103E.01:2021
高温存储寿命试验
检测项目：高温存储寿命试验 (HTSL)
检测对象：半导体器件