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数据更新时间
2026-05-12
当前展示该机构前 23 条能力；该机构共 23 条能力记录。
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GJB 9147-2017
半导体集成电路运算放大器测试方法
检测项目：输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、静态功耗P<Sub>D</Sub>、电压转换速率S<Sub>R</Sub>、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>、输出峰峰值电压V<Sub>OPP</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器
SJ/T10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出高阻态时高水平电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低水平电流I<Sub>OZL</Sub>、电源电流I<Sub>DD</Sub>
检测对象：半导体集成电路CMOS电路
SJ/T10805-2018
半导体集成电路电压比较器测试方法
检测项目：输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入失调电压V<Sub>IO</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压比较器
GB/T 4377-2018
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目：电压调整率S<Sub>V</Sub>、基准电压V<Sub>REF</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压调整器
GB/T14028-2018
半导体集成电路模拟开关测试方法
检测项目：导通电阻R<Sub>on</Sub>、导通电阻路差△R<Sub>on</Sub>
检测对象：半导体集成电路模拟开关