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数据更新时间
2026-05-12
当前展示该机构前 12 条能力；该机构共 12 条能力记录。
按标准归类为 8 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T 4023-2015
半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管
检测项目：正向电压、击穿电压、反向电流
检测对象：二极管
GB/T 4586-1994
半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 第IV章
检测项目：漏极电流、栅-源阈值电压、静态漏-源通态电阻
检测对象：场效应晶体管
JESD22-A108G-2022
温度、偏置、工作寿命
检测项目：温度偏置寿命试验
检测对象：半导体电子元器件
JESD22-A101D.01-2021
稳态温湿度偏置寿命试验
检测项目：高温高湿反偏
检测对象：半导体电子元器件
JESD22-A104F.01-2023
温度循环 5.1~
检测项目：温度循环试验
检测对象：半导体电子元器件
JESD22-A102E-2015
加速抗潮湿无偏置高压蒸煮 3、
检测项目：高压蒸煮
检测对象：半导体电子元器件
JESD22-A103E.01-2021
高温存储寿命 4.1、
检测项目：高温存储
检测对象：半导体电子元器件
GB/T 2423.2-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温 5.2，6.1~
检测项目：高温存储
检测对象：半导体电子元器件