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2026-05-12
当前机构按“电子元器件”筛选，展示 8 条相关能力。
按标准归类为 7 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
JY/T 0581-2020
透射电子显微镜分析方法通则
检测项目：微区物相分析(TEM)、微纳米尺寸测量(TEM)
检测对象：电子元器件
GB/T 18907-2013
微束分析 分析电子显微术透射电镜选区电子衍射分析方法
检测项目：微区物相分析(TEM)
检测对象：电子元器件
GB/T 43748-2024
微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法
检测项目：微纳米尺寸测量(TEM)
检测对象：电子元器件
GB/T 16594-2008
微米级长度的扫描电镜测量方法通则
检测项目：扫描电子显微分析
检测对象：电子元器件
GB/T 20307-2006
纳米级长度的扫描电镜测量方法通则
检测项目：扫描电子显微分析
检测对象：电子元器件
GB/T 31563-2015
金属覆盖层厚度测量扫描电镜法
检测项目：扫描电子显微分析
检测对象：电子元器件
GB/T 17359-2023
微束分析 原子序数不小于11的元素能谱法定量分析
检测项目：微束分析
检测对象：电子元器件