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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电源”筛选，展示 26 条相关能力。
按标准归类为 7 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB151B-2013
军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量
检测项目：25Hz～10kHz电源线传导发射 CE101、10kHz～10MHz电源传导发射 CE102、电源线尖峰信号（时域）传导发射 CE107、25Hz～150kHz电源线传导敏感度 CS101、电源线尖峰信号传导敏感度 CS106、10kHz～100MHz电缆和电源线阻尼正弦瞬变（态）传导敏感度 CS116
检测对象：专用设备和分系统(EMI)
检测对象：专用设备和分系统(EMS)
GJB152A－1997
军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 方法CE
检测项目：25Hz～10kHz电源线传导发射 CE101、10kHz～10MHz电源传导发射 CE102、电源线尖峰信号（时域）传导发射 CE107、25Hz～150kHz电源线传导敏感度 CS101、电源线尖峰信号传导敏感度 CS106、10kHz～100MHz电缆和电源线阻尼正弦瞬变（态）传导敏感度 CS116
检测对象：专用设备和分系统(EMI)
检测对象：专用设备和分系统(EMS)
GJB151A－1997
军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求
检测项目：25Hz～10kHz电源线传导发射 CE101、10kHz～10MHz电源传导发射 CE102、电源线尖峰信号（时域）传导发射 CE107、25Hz～150kHz电源线传导敏感度 CS101、电源线尖峰信号传导敏感度 CS106、10kHz～100MHz电缆和电源线阻尼正弦瞬变（态）传导敏感度 CS116
检测对象：专用设备和分系统(EMI)
检测对象：专用设备和分系统(EMS)
GB/T17574-1998
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇/第2节/
检测项目：电源电流、输出高电平时电源电流、输出低电平时电源电流
检测对象：CMOS电路
检测对象：ECL电路
检测对象：TTL电路
GB/T 9254.1-2021
信息技术设备、多媒体设备和接收机电磁兼容 第1部分：发射要求 A.3、D.
检测项目：电源端口传导发射
检测对象：信息技术设备（EMI）
SJ/T10805-2018
半导体集成电路电压比较器测试方法
检测项目：电源电压抑制比
检测对象：电压比较器
QJ 2491-1993
半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理
检测项目：电源电压抑制比
检测对象：运算放大器