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数据更新时间
2026-05-12
当前展示该机构前 100 条能力;该机构共 228 条能力记录。
按标准归类为 15 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
GB/T 36477-2018
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
检测项目:输出低电平、输出高电平、输入低电平、输入高电平、输入高电平电流、输入低电平电流、输出高电平电流、输出低电平电流 等 18 项,点击展开全部
检测对象:快闪(FLASH)存储器
集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018
集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018
检测项目:失调误差、满度误差、增益误差、微分非线性 DNL、积分非线性 INL、信噪比 SNR、信噪失真比SINAD、总谐波失真 THD 等 16 项,点击展开全部
检测对象:模数转换器ADC
检测对象:数模转换器DAC
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法
检测项目:输入失调电压、输入偏置电流、输入失调电流、静态功耗、开环电压增益、共模抑制比、转换速率、电源电压抑制比 等 15 项,点击展开全部
检测对象:运算放大器
GB/T 14028-2018
半导体集成电路 模拟开关测试方法
检测项目:模拟电压工作范围、导通电阻、导通电阻路差、截止态漏极漏电流、截止态源极漏电流、导通态漏电流、开启时间、关断时间 等 10 项,点击展开全部
检测对象:模拟开关
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项目:输出电压、输出电流、输出纹波电压、电压调整率、电流调整率、输入电流、效率、启动过冲 等 10 项,点击展开全部
检测对象:电源模块
GB/T 6798-1996
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
检测项目:输入失调电压、输入失调电流、输入偏置电流、静态功耗、开环电压增益
检测对象:电压比较器
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
检测项目:直流电阻、电容量、品质因数
检测对象:电阻器
检测对象:电容器
GB/T 35006-2018
半导体集成电路 电平转换器测试方法
检测项目:输出由低电平到高阻态传输延迟时间、输出由低电平到高电平转换时间、输出由高电平到低电平转换时间
检测对象:电平转换器
集成电路 A/D 和 D/A转换器测试方法的基本原理 SJ/20961-2006
集成电路 A/D 和 D/A转换器测试方法的基本原理 SJ/20961-2006
检测项目:转换时间、基准电压
检测对象:模数转换器ADC
检测对象:数模转换器DAC
有失效等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范 GJB 733B-2011
有失效等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范 GJB 733B-2011
检测项目:漏电流
检测对象:电容器
非固体电解质钽固定电容器总规范 GJB 1312A-2001
非固体电解质钽固定电容器总规范 GJB 1312A-2001
检测项目:漏电流
检测对象:电容器
GB/T 6346.1-2024
电子设备用固定电容器 第1部分:总规范
检测项目:漏电流
检测对象:电容器
固体电解质钽电容器通用规范 GJB 63C-2015
固体电解质钽电容器通用规范 GJB 63C-2015
检测项目:漏电流
检测对象:电容器
GB/T 4023-2015
半导体器件 分立器件和集成电路 第 2 部分:整流二极管
检测项目:正向电压
检测对象:二极管
GB/T 6571-1995
半导体器件 分立器件 第 3 部分:信号(包括开关)和调整二极管 第 IV 章第 2节
检测项目:正向电压
检测对象:二极管