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北京中天星控科技开发有限公司检测部

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地址:北京市海淀区知春路63号北京卫星制造厂51号楼9层906

联系电话:010-62559767

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

当前展示该机构前 100 条能力;该机构共 228 条能力记录。

按标准归类为 15 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

GB/T 36477-2018

半导体集成电路 快闪存储器测试方法

18 项检测项目

检测项目:输出低电平、输出高电平、输入低电平、输入高电平、输入高电平电流、输入低电平电流、输出高电平电流、输出低电平电流 等 18 项,点击展开全部

检测对象:快闪(FLASH)存储器

输出低电平输出高电平输入低电平输入高电平输入高电平电流输入低电平电流输出高电平电流输出低电平电流输出高阻态电流动态电源电流静态电源电流传输时间保持时间建立时间延迟时间存储单元 0 变1 功能存储单元 1 变 0 功能特殊数据图形功能

集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018

集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018

16 项检测项目

检测项目:失调误差、满度误差、增益误差、微分非线性 DNL、积分非线性 INL、信噪比 SNR、信噪失真比SINAD、总谐波失真 THD 等 16 项,点击展开全部

检测对象:模数转换器ADC

失调误差满度误差增益误差微分非线性 DNL积分非线性 INL信噪比 SNR信噪失真比SINAD总谐波失真 THDN 阶谐波失真HD有效位 ENOB无杂散动态范围 SFDR模拟输入电流电源电流直流电源抑制比

检测对象:数模转换器DAC

失调误差双极零点误差增益误差满度误差微分非线性 DNL积分非线性 INL模拟输出漏电流信噪比 SNR信噪失真比SINAD总谐波失真 THD无杂散动态范围 SFDR电源电流直流电源抑制比

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法

15 项检测项目

检测项目:输入失调电压、输入偏置电流、输入失调电流、静态功耗、开环电压增益、共模抑制比、转换速率、电源电压抑制比 等 15 项,点击展开全部

检测对象:运算放大器

输入失调电压输入偏置电流输入失调电流静态功耗开环电压增益共模抑制比转换速率电源电压抑制比输出峰峰电压输出高电平输出低电平输出短路电流小信号带宽大信号带宽最大共模输入电压

GB/T 14028-2018

半导体集成电路 模拟开关测试方法

10 项检测项目

检测项目:模拟电压工作范围、导通电阻、导通电阻路差、截止态漏极漏电流、截止态源极漏电流、导通态漏电流、开启时间、关断时间 等 10 项,点击展开全部

检测对象:模拟开关

模拟电压工作范围导通电阻导通电阻路差截止态漏极漏电流截止态源极漏电流导通态漏电流开启时间关断时间通道转换时间导通电阻路差率

混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

10 项检测项目

检测项目:输出电压、输出电流、输出纹波电压、电压调整率、电流调整率、输入电流、效率、启动过冲 等 10 项,点击展开全部

检测对象:电源模块

输出电压输出电流输出纹波电压电压调整率电流调整率输入电流效率启动过冲启动延迟开关频率

GB/T 6798-1996

半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理

5 项检测项目

检测项目:输入失调电压、输入失调电流、输入偏置电流、静态功耗、开环电压增益

检测对象:电压比较器

输入失调电压输入失调电流输入偏置电流静态功耗开环电压增益

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

3 项检测项目

检测项目:直流电阻、电容量、品质因数

检测对象:电阻器

直流电阻

检测对象:电容器

电容量品质因数

GB/T 35006-2018

半导体集成电路 电平转换器测试方法

3 项检测项目

检测项目:输出由低电平到高阻态传输延迟时间、输出由低电平到高电平转换时间、输出由高电平到低电平转换时间

检测对象:电平转换器

输出由低电平到高阻态传输延迟时间输出由低电平到高电平转换时间输出由高电平到低电平转换时间

集成电路 A/D 和 D/A转换器测试方法的基本原理 SJ/20961-2006

集成电路 A/D 和 D/A转换器测试方法的基本原理 SJ/20961-2006

2 项检测项目

检测项目:转换时间、基准电压

检测对象:模数转换器ADC

转换时间

检测对象:数模转换器DAC

基准电压

有失效等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范 GJB 733B-2011

有失效等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范 GJB 733B-2011

1 项检测项目

检测项目:漏电流

检测对象:电容器

漏电流

非固体电解质钽固定电容器总规范 GJB 1312A-2001

非固体电解质钽固定电容器总规范 GJB 1312A-2001

1 项检测项目

检测项目:漏电流

检测对象:电容器

漏电流

GB/T 6346.1-2024

电子设备用固定电容器 第1部分:总规范

1 项检测项目

检测项目:漏电流

检测对象:电容器

漏电流

固体电解质钽电容器通用规范 GJB 63C-2015

固体电解质钽电容器通用规范 GJB 63C-2015

1 项检测项目

检测项目:漏电流

检测对象:电容器

漏电流

GB/T 4023-2015

半导体器件 分立器件和集成电路 第 2 部分:整流二极管

1 项检测项目

检测项目:正向电压

检测对象:二极管

正向电压

GB/T 6571-1995

半导体器件 分立器件 第 3 部分:信号(包括开关)和调整二极管 第 IV 章第 2节

1 项检测项目

检测项目:正向电压

检测对象:二极管

正向电压

机构信息

机构名称

北京中天星控科技开发有限公司检测部

所在地区

北京市 · 北京市

企业地址

北京市海淀区知春路63号北京卫星制造厂51号楼9层906

法定代表人

李雪

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