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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子器件”筛选，展示 12 条相关能力。
按标准归类为 12 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
JESD22-A100E:2020
温度湿度偏置与表面凝露循环寿命测试
检测项目：温度湿度偏置与表面凝露循环寿命测试
检测对象：电子器件
JESD22-A101D.01:2021
稳态湿热偏置寿命试验
检测项目：稳态湿热偏置寿命试验
检测对象：电子器件
JESD22-A102E:2015
高加速蒸煮试验
检测项目：高加速蒸煮试验
检测对象：电子器件
JESD22-A103E:2015
高温存储寿命试验
检测项目：高温存储寿命试验
检测对象：电子器件
JESD22-A104F:2020
温度循环试验
检测项目：温度循环试验
检测对象：电子器件
JESD22-A105D:2020
加电温度循环试验
检测项目：加电温度循环试验
检测对象：电子器件
JESD22-A106B.01:2016
温度冲击试验
检测项目：温度冲击试验
检测对象：电子器件
JESD22-A107C:2013
盐雾试验
检测项目：盐雾试验
检测对象：电子器件
JESD22-A108F:2017
温度偏置工作寿命试验
检测项目：温度偏置工作寿命试验
检测对象：电子器件
JESD22-A110E:2015
高加速寿命试验
检测项目：高加速寿命试验
检测对象：电子器件
JESD22-A118B.01:2021
高加速无偏置寿命试验
检测项目：高加速无偏置寿命试验
检测对象：电子器件
JESD22-B103B.01:2016
振动和扫频试验
检测项目：振动和扫频试验
检测对象：电子器件