北京长城电子装备有限责任公司环境与可靠性检测中心

军用计算机通用规范 GJB322A-1998

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技术侦察装备通用技术要求 第7部分：环境适应性要求和试验方法 GJB1621.7A-2006

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声纳通用规范 GJB22A-1999

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电子及电器元件试验方法 GJB360B-2009 方法

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水雷通用规范 GJB1819A-2018

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微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法

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微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法

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GB/T2423.22-2012

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化

半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法

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水雷通用规范 GJB1819A-2018 3.9.1、

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声纳换能器通用规范 GJB23A-1999

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汽车收放机环境试验要求和试验方法 SJ/T 10325-1992

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声纳换能器通用规范 GJB23B-2018

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军用设备环境试验方法 低温试验 GJB150.4-

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鱼雷环境条件及试验方法 CB1235-1993 方法106 盐雾试验

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军用设备环境试验方法温度冲击试验 GJB150.5-

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军用装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验 GJB150.5A-

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半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法

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声纳换能器通用规范 GJB23B-2018 3.3.3 a)

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机载设备的环境条件和测试程序 RTCA DO160G-2010

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鱼雷环境条件及试验方法 CB1235-1993 方法103 温度变化试验

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军用装备实验室环境试验方法 第14部分:浸渍试验 GJB150.14A-

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鱼雷环境条件及实验方法 CB1235-1993 方法101 低温试验

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可靠性鉴定和验收试验 GJB899A-

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GB/T 12165-1998

盒式磁带录音机可靠性要求和试验方法

技术侦察装备通用技术要求 第8部分：可靠性指标和验证试验方法 GJB1621.8A-

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电子产品环境应力筛选方法 GJB1032-

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电子产品环境应力筛选方法 GJB1032A-

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GB/T34986-2017

产品加速试验方法

舰船设备噪声、振动测量方法 GJB4058-2000

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舰船噪声限值和测量方法 第5部分：舰船设备空气噪声测量 GJB763.5A-

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军用设备环境试验方法 高温试验 GJB150.3-

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军用装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验 GJB150.3A-

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舰船电子设备环境试验 高温试验 GJB4.2-

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军用通信设备通用规范 高温试验 GJB367A-2001

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GB/T2423.2-2008

电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B：高温

军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验 GJB150.4A-

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汽车收放机环境试验要求和试验方法 SJ/T 10325-1992 4.1 ，

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机载设备的环境条件和测试程序 RTCA DO160G-2010 4.5.3、

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微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1008.1、方法

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半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1031、方法

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鱼雷环境条件及试验方法 CB1235-1993 方法102 高温试验

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舰船电子设备环境试验 低温贮存试验 GJB4.4-

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微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法1008.1、方法

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舰船电子设备环境试验 恒定湿热试验 GJB4.5-

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GB/T2423.3-2016

环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验

机载设备的环境条件和测试程序 RTCA DO160G-2010 6.3.1、6.3.2、

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舰船电子设备环境试验 低温试验 GJB4.3-

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军用设备环境试验方法 湿热试验 GJB150.9-

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军用装备实验室环境试验方法 第9部分:湿热试验 GJB150.9A-

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舰船电子设备环境试验 交变湿热试验 GJB4.6-

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军用通信设备通用规范 GJB367A－2001

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GB/T2423.4-2008

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环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验

军用通信设备通用规范 低温试验 GJB367A-2001

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鱼雷环境条件及试验方法 CB1235-1993 方法104 交变湿热试验

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军用设备环境试验方法 冲击试验 GJB150.18-1986 试验一、五、六和七

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军用装备实验室环境试验方法 第18部分: 冲击试验 GJB150.18A -

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GB/T 2423.5-2019

环境试验 第2部分：试验方法 试验Ea和导则：冲击

军用通信设备通用规范 GJB367A-2001

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IEC61373-2010

铁路应用-机车车辆设备-冲击和振动试验

机载设备的环境条件和测试程序 RTCA DO160G-2010 7.2、7.3.1、

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GB/T2423.1-2008

电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A：低温