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陕西省电子信息产品监督检验院陕西省软件评测中心

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陕西省

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

当前展示该机构前 100 条能力;该机构共 680 条能力记录。

按标准归类为 22 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

GB/T 17940-2000

半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 第IV篇第2节

22 项检测项目

检测项目:电源电流、输入失调电压VIO、偏置电压、输入失调电流IIO、输入偏置电流IIB、开环电压放大倍数、共模抑制比KCMR、电源电压抑制比KSVR 等 22 项,点击展开全部

检测对象:线性放大器(包括运算放大器)

电源电流输入失调电压VIO偏置电压输入失调电流IIO输入偏置电流IIB开环电压放大倍数共模抑制比KCMR电源电压抑制比KSVR短路输出电流IOS输出电压最大变化率(转换速率)SVOM输出电压范围 (输出峰-峰电压)截止频率,单位增益频率(增益带宽乘积)

检测对象:电压调整器

输入调整系数负载调整系数备用电流(静态电流)电源纹波抑制比(Srip)短路电流(IOS)基准电压(VREF)输出噪声电压(VNO)

检测对象:模拟开关

截止态电流导通态电流导通电阻(RON)

GB/T 6798-1996

半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理

13 项检测项目

检测项目:输入失调电压VIO、输入失调电流IIO、输入偏置电流IIB、静态功耗PD、开环电压增益AVD、共模抑制比KCMR、电源电压抑制比KSVR、输出高电平电压VOH 等 13 项,点击展开全部

检测对象:电压比较器

输入失调电压VIO输入失调电流IIO输入偏置电流IIB静态功耗PD开环电压增益AVD共模抑制比KCMR电源电压抑制比KSVR输出高电平电压VOH输出低电平电压VOL高电平输出电流IOH低电平输出电流IOL低电平选通电流IST(L)高电平选通电流IST(H)

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017

12 项检测项目

检测项目:输入失调电压VIO、输入失调电流IIO、输入偏置电流IIB、开环电压放大倍数、共模抑制比KCMR、电源电压抑制比KSVR、短路输出电流IOS、输出电压最大变化率(转换速率)SVOM 等 12 项,点击展开全部

检测对象:线性放大器(包括运算放大器)

输入失调电压VIO输入失调电流IIO输入偏置电流IIB开环电压放大倍数共模抑制比KCMR电源电压抑制比KSVR短路输出电流IOS输出电压最大变化率(转换速率)SVOM输出电压范围 (输出峰-峰电压)截止频率,单位增益频率(增益带宽乘积)最大输出电流静态功耗

SJ/T 10805-2018

半导体集成电路电压比较器测试方法

11 项检测项目

检测项目:输入失调电压VIO、输入失调电流IIO、输入偏置电流IIB、静态功耗PD、开环电压增益AVD、共模抑制比KCMR、电源电压抑制比KSVR、输出高电平电压VOH 等 11 项,点击展开全部

检测对象:电压比较器

输入失调电压VIO输入失调电流IIO输入偏置电流IIB静态功耗PD开环电压增益AVD共模抑制比KCMR电源电压抑制比KSVR输出高电平电压VOH输出低电平电压VOL高电平输出电流IOH低电平输出电流IOL

GB/T 4377-2018

半导体集成电路 电压调整器测试方法

9 项检测项目

检测项目:电压调整率(SV)、电流调整率(SI)、耗散电流(ID)和耗散电流变化(△ID)、电源纹波抑制比(Srip)、短路电流(IOS)、基准电压(VREF)、输出噪声电压(VNO)、最小输入输出电压差 等 9 项,点击展开全部

检测对象:电压调整器

电压调整率(SV)电流调整率(SI)耗散电流(ID)和耗散电流变化(△ID)电源纹波抑制比(Srip)短路电流(IOS)基准电压(VREF)输出噪声电压(VNO)最小输入输出电压差输出电压和输出电压偏差

GB/T14030-1992

半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

8 项检测项目

检测项目:复位电压VR、复位电流IR、触发电压VTR、触发电流ITR、阈值电压VT、阈值电流IT、控制端电压VC、静态电源电流I+

检测对象:时基电路

复位电压VR复位电流IR触发电压VTR触发电流ITR阈值电压VT阈值电流IT控制端电压VC静态电源电流I+

GB/T 14028-2018

半导体集成电路模拟开关测试方法

5 项检测项目

检测项目:导通电阻路差(△Ron)、截止态漏极漏电流[ID(off)]、截止态源极漏电流[IS(off)]、导通态漏电流[IDS(on)]、导通电阻(RON)

检测对象:模拟开关

导通电阻路差(△Ron)截止态漏极漏电流[ID(off)]截止态源极漏电流[IS(off)]导通态漏电流[IDS(on)]导通电阻(RON)

GB/T 14029-1992

半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理

4 项检测项目

检测项目:线性误差EL、馈通误差EF、共模抑制比KCMR、满量程总误差Etot

检测对象:模拟乘法器

线性误差EL馈通误差EF共模抑制比KCMR满量程总误差Etot

GB/T 17574-1998

半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第IV篇第2节

2 项检测项目

检测项目:输出高阻态电流(IOZ)、功能测试

检测对象:数字集成电路

输出高阻态电流(IOZ)功能测试

半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

2 项检测项目

检测项目:输出高电平电流、输出低电平电流

检测对象:数字集成电路

输出高电平电流输出低电平电流

GB/T17626.2-2006

电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验 GB/T17626.2-

1 项检测项目

检测项目:静电放电抗扰度

检测对象:电子产品(电磁兼容)

静电放电抗扰度

​军用装备实验室环境试验方法 低温试验 GJB 150.4A-

​军用装备实验室环境试验方法 低温试验 GJB 150.4A-

1 项检测项目

检测项目:低温试验

检测对象:电工电子产品

低温试验

半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.13、

半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.13、

1 项检测项目

检测项目:输出高阻态电流(IOZ)

检测对象:数字集成电路

输出高阻态电流(IOZ)

GB/T 2423.2-2008

电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验B:高温

1 项检测项目

检测项目:高温试验

检测对象:电工电子产品

高温试验

军用装备实验室环境试验方法 高温试验 GJB 150.3A-

军用装备实验室环境试验方法 高温试验 GJB 150.3A-

1 项检测项目

检测项目:高温试验

检测对象:电工电子产品

高温试验

GB/T 2423.3-2016

环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab: 恒定湿热试验

1 项检测项目

检测项目:恒定湿热试验

检测对象:电工电子产品

恒定湿热试验

GB/T 2423.4-2008

电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验Db:交变湿热(12h+12h)

1 项检测项目

检测项目:交变湿热试验

检测对象:电工电子产品

交变湿热试验

GB/T 2423.5-2019

环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击

1 项检测项目

检测项目:冲击试验

检测对象:电工电子产品

冲击试验

GB/T 6587-2012

​电子测量仪器通用规范

1 项检测项目

检测项目:冲击试验

检测对象:电工电子产品

冲击试验

GB/T 21563-2018

轨道交通 机车车辆设备 冲击和振动试验

1 项检测项目

检测项目:冲击试验

检测对象:电工电子产品

冲击试验

GB/T 2423.10-2019

环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动 (正弦)

1 项检测项目

检测项目:振动试验

检测对象:电工电子产品

振动试验

GB/T14114-1993

半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理 4.1、

1 项检测项目

检测项目:失调误差EO

检测对象:电压/频率和频率/电压转换器

失调误差EO

机构信息

机构名称

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所在地区

陕西省

企业地址

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